Gebraucht KLA / TENCOR 9233398-NG #9236041 zu verkaufen

KLA/TENCOR 9233398-NG ist ein Prober, der bei der Prüfung und Analyse von Halbleiterprodukten helfen soll. Dieser Hochleistungs-Prober verfügt über ein automatisches Wafer-Platzierungssystem und bietet eine beeindruckende Auswahl an Funktionen, darunter hoher Durchsatz, schnelle Austauschzeit, berührungslose Aufzeichnung und geräuscharme Testlösung. Die KLA- 9233398-NG wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Anwendungen zu inspizieren, darunter Wafer-Level, Package-Level, Die-Level, Module-Level, Montage-Level und spezielle Tests. Dies geschieht durch die Bereitstellung einer Reihe von Testfunktionen wie berührungslose Oberflächenaufzeichnung, Testen an mehreren Positionen von einem einzigen Prober, Wafer und Werkzeugkontakttest und erweiterte Hochgeschwindigkeitsmessungen. TENCOR 9233398-NG ist ein vollautomatischer Prober mit hoher Flexibilität und Skalierbarkeit. Der Wafer-Chucker hält Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 50 mm und ist in der Lage, die Düse bis zu 3 mm2 zu handhaben. Zusätzlich hat der Prober eine Düsenübertragungsgenauigkeit von besser als ± 7 μ m, was eine präzise Bewegung der Matrize während der Prüfung ermöglicht. Darüber hinaus verfügt 9233398-NG Prober über ein H-Tree-Testchip-Kontaktsystem, das es sowohl für niederfrequente als auch für Millimeterwellenanwendungen bis 67 GHz geeignet macht. Es hat auch eine Abrufzykluszeit von 0,55 Sekunden und eine programmierbare berührungslose Testfläche von bis zu 53 mm Durchmesser. Der Prober bietet auch eine automatische Erkennung und Werkzeugabbildung von Waferwerkzeugen sowie erweiterte Messungen zur Signalintegrität, Messung von DUTs, Fehlausrichtung und Kantenerkennung. In Bezug auf die Genauigkeit ist KLA/TENCOR 9233398-NG prober entwickelt, um zuverlässige Wiederholbarkeit und Genauigkeit zu bieten, was zu verbesserten Testerträgen und einer besseren Produktleistung führt. Der Prober ist außerdem robust und zuverlässig konzipiert, so dass er für den langfristigen Einsatz sehr zuverlässig ist. Aufgrund seiner fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten ist KLA 9233398-NG prober ideal für die Durchführung genauer Tests und Analysen von Halbleiterprodukten mit hohem Durchsatz. Es eignet sich besonders für Anwendungen wie Wafer-Level-Test, verteilte Verpackungsprüfung und Hochfrequenztest.