Gebraucht MICROMANIPULATOR 6000 #139273 zu verkaufen

MICROMANIPULATOR 6000
Hersteller
MICROMANIPULATOR
Modell
6000
ID: 139273
Prober with Olympus trinocular scope
MICROMANIPULATOR 6000 ist ein hochmoderner Prober, der vor allem für kleinere Manipulationen und Inspektionen in mikroelektronischen Fertigungsprozessen eingesetzt wird. Der Prober bietet eine präzise Steuerung mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit, was ihn für die Einführung von frischen Testwürfeln und Kontaktsonden in Prüfsteckdosen mit integrierter Schaltung (IC) von unschätzbarem Wert macht. Zwei Achsen ultrafein motorisierte Stufen ermöglichen es dem Prober, die Prüfform genau entlang ihrer X- und Y-Achse zu bewegen, um eine präzise Platzierung und Ausrichtung in der Steckdose zu gewährleisten. Der Prober hat auch eine Z-Achse mit einem Bereich von 0 bis -10um, so dass beim Einsetzen präzise Abwärtskraft aufgebracht werden kann. Die beiden verstellbaren Beine ermöglichen es dem Prüfkörper, den Prüfkörper in seinen X- und Y-Achsen unabhängig voneinander um Mikron-Pegelinkremente zu verschieben. Der Prober verfügt außerdem über ein integriertes Sichtsystem mit einer digitalen Farbkamera, einer eingebauten Bildverarbeitungseinheit und einem Laserkantendetektor. Dieses System ermöglicht eine präzise Ausrichtung des Prüfstempels auf die Steckdose und hilft, diese während des Sondierungsprozesses zu sichern. 6000 ist für den Einsatz in Reinräumen konzipiert, und seine inerten Baustoffe sind gut geeignet, um die Partikelbildung zu vermeiden. Der Prober ist auch leicht anpassbar für eine breite Palette von IC-Paketen, und es unterstützt sowohl manuelle als auch automatisierte Sondierung. Insgesamt ist MICROMANIPULATOR 6000 ein unschätzbares Werkzeug zur präzisen Manipulation und Inspektion bei der Herstellung von integrierten Schaltungen und anderen mikroelektronischen Geräten. Seine Kapazität für ultrafeine motorisierte Stufen und kompliziertes Sichtsystem ermöglicht präzise und wiederholbare Genauigkeit und bietet eine beispiellose Präzision für die Einführung von frischen Testwürfeln und Kontaktsonden auf IC-Testsockeln.
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