Gebraucht MICROMANIPULATOR PROBE STATION #293634835 zu verkaufen

Eine MIKROMANIPULATOR-SONDENSTATION ist eine automatisierte Proberausrüstung zur umfassenden elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen. Es kombiniert die Bequemlichkeit der manuellen Sondierung mit der Präzision automatisierter Tests. Die automatisierte PROBE STATION umfasst Präzisionsmikrometer mit einer Positioniergenauigkeit von mehr als 5 µm, Z-Achsen-Translationsstufen, XY-Translationsstufen und Drehstufen, die eine Bewegungssteuerung mit sechs Freiheitsgraden ermöglichen. Die spezialisierten Software- und Hardwaresysteme ermöglichen den schnellen Austausch und die Ausrichtung von Wafern sowie präzise elektrische Messungen. MICROMANIPULATOR PROBE STATION System ermöglicht eine große Flexibilität in der Sondierung, Charakterisierung und Prüfung. Es besteht aus drei Hauptkomponenten, einem Prober und zwei Vorbereitungsbereichen (für elektrische und thermische Konditionierung). Der Prober dient zum Ausrichten und Verbinden von Prüfraumsonden mit dem im Test befindlichen Wafer. Der elektrische Aufbereitungsbereich enthält die notwendigen Komponenten zur Durchführung elektrischer Tests, während der thermische Aufbereitungsbereich für einen hohen Temperaturbereich bis 300 ° C ausgelegt ist. Die Proberstation kann auch mit verschiedenen Zusatzfunktionen wie Elektrometern, Strommessungen und Kapazitätszählern ausgestattet werden. Diese Merkmale werden für komplexe Tests verwendet, die präzise Spannungs- und Strommessungen erfordern, sowie für die Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen. Zusätzlich zu diesen Basiskomponenten kann die Proberstation mit einer Vielzahl von Zubehör und Upgrades ausgestattet werden. Dazu gehören ein elektronisches Mikroskop, eine automatische Wafer-Mapping-Einheit, ein automatisierter Handler und intelligente Optiksysteme. Der automatisierte Handler hilft beim Waferaustausch und Ausrichtung, während das elektronische Mikroskop die Beobachtung von Wafer im Test ermöglicht. Die intelligente Optikmaschine dient zur präzisen Ausrichtung der Sondenspitze auf das Gerät. PROBE STATION bildet eine zuverlässige automatisierte Plattform zur elektrischen Charakterisierung von integrierten Schaltungen, die eine breite Palette von Messungen, detaillierte Inspektion und Analyse ermöglicht. Die Flexibilität seiner Merkmale und Bauelemente ist sehr vorteilhaft, um in einer Vielzahl von Halbleiteranwendungen genaue, umfassende und wiederholbare Ergebnisse zu erzielen.