Gebraucht MJC SP-80 #293807242 zu verkaufen

MJC SP-80 ist ein anspruchsvoller Wafer-Prober, der Chips auf Wafer/Produktebene testet. Es ist ideal für Chip-Tests in einer serienarmen Umgebung und liefert schnelle und genaue Ergebnisse. Der Prober ist kompakt und platzsparend und bietet eine hervorragende Genauigkeit mit 0,15 μ m Spaltgrößentoleranz. Der Prober ist vollautomatisiert und bietet eine Reihe von Funktionen, die höhere Erfolgsraten für Testergebnisse ermöglichen. Es verfügt über eine hohe Krafteinstellkapazität von bis zu 50 N und ermöglicht die Prüfung von Hochleistungskomponenten. Die Bordheizfähigkeit erreicht bis zu 200 ° C und ist somit für Heißtests geeignet. SP-80 unterstützt viele Standard-Gerätetestformate, wie Wide-Pitch-, PBGA- und BGA-Tests. Mit seiner benutzerfreundlichen Testprogrammauswahl können Anwender problemlos das gewünschte Testprogramm für die laufende Anwendung auswählen. Es kann auch mit bis zu vier analogen Sensormodulen und einer digitalen Schnittstellenkarte zur weiteren Testfähigkeit ausgestattet werden. Der Prober umfasst eine intuitive Softwareschnittstelle sowie ein robustes SDK mit einer Bibliothek von über 1.500 Gerätetestfunktionen. Es verfügt über eine automatische Erkennungsfunktion für die Suche nach ausfallsicheren Punkten, und die eingebaute Thermik erkennt und lokalisiert zu schnell thermische Fehler. Die zuverlässige und einfach zu bedienende Schnittstelle stellt sicher, dass Benutzer Zugriff auf genaue und qualitativ hochwertige Daten haben, während sie ihre Geräte testen. MJC- SP-80 ist kompatibel mit einer Reihe von Prüfpunkten und hat eine maximale Probengröße von 200mm. Seine Software ist in der Lage, bis zu 900 Testprogramme gleichzeitig mit bis zu 3.000 Testpunkten zu laden und kann in automatisierte Testsysteme integriert werden. Seine erweiterten Funktionen ermöglichen es Benutzern, ihre Testprogramme zu speichern, zu bearbeiten, abzurufen und zu verwalten, und seine Sicherheitsfunktionen schützen die Daten der Kunden vor externen Zugriffen. SP-80 ist ein vielseitiger und zuverlässiger Halbleiter-Wafer-Prober, ideal für Niederserientests. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und der automatisierten Technologie stellt er sicher, dass Benutzer ihre Geräte schnell und genau mit Präzision und Effizienz testen können.