Gebraucht MPI-FC LEDA-8S EVA-3G-110 #9181611 zu verkaufen

MPI-FC LEDA-8S EVA-3G-110 ist ein fortschrittlicher optischer Prober zur Sondierung einer Vielzahl von Halbleiterscheiben, Substraten und Paketen. Es ist mit hochauflösenden optischen Systemen ausgestattet, die verwendet werden können, um extrem kleine Defekte, Strukturen und Merkmale auf der Oberfläche eines Wafers oder einer Verpackung zu erkennen. Der LEDA-8S Prober ist für Wafer-Pegel Burn-in, Off-Axis-Imaging und rückseitige Beleuchtungsmessungen optimiert. LEDA-8S EVA-3G-110 ist speziell für fortgeschrittene Halbleitersondierungsanwendungen konzipiert. Der Prober verfügt über eine integrierte 40-Megapixel-Digitalkamera, mit der auch mikroskopische Defekte und Strukturen mit einer Auflösung von bis zu 5 Nanometern abgebildet werden können. Das LEDA-8S ist mit einem leistungsstarken XYZ-Gelenkscanarm ausgestattet. Der Arm kann unabhängig programmiert werden, um sich in kleinen Schritten über mehrere Achsen zu bewegen, wodurch die gesamte Waferoberfläche schnell und mit hoher Genauigkeit gescannt werden kann. Es ist auch mit einer hohen Beschleunigung ausgestattet, Low-Force-Scanner ermöglicht das Scannen von Funktionen bis zu 0,5 mm in der Größe ohne Beschädigung empfindlicher Strukturen. Zum Prober gehört auch ein automatisiertes Testgerät. Mit einem Knopfdruck können Benutzer automatisierte Tests wie Burn-in, Paketverifizierung und Fehleranalyse am Wafer oder am Paket durchführen. Die Testergebnisse können dann sofort gemeldet und analysiert werden, um den Prozess entsprechend anzupassen. Der LEDA-8S Prober wird auch durch eine Vielzahl von Funktionen und Software unterstützt, die es extrem einfach zu bedienen macht. Es verfügt über ein automatisiertes Wafer-Zentriersystem, mit dem es programmiert werden kann, um sich ohne manuellen Eingriff auf die meisten Wafergrößen zu konzentrieren. Es verfügt auch über eine intuitive Softwareschnittstelle, die sowohl benutzerfreundlich als auch anpassbar ist, so dass Benutzer ihre gewünschten Setup-Parameter auswählen und ihre Tests mit maximaler Effizienz ausführen können. Insgesamt ist MPI-FC LEDA-8S EVA-3G-110 ein leistungsstarker und vielseitiger Prober, der sich für eine breite Palette fortschrittlicher Chip-Sondierungsanwendungen eignet. Die integrierten erweiterten optischen Systeme und die Testeinheit ermöglichen es Benutzern, Fehler, Strukturen und Funktionen auf Halbleiterscheiben, Substraten und Paketen schnell und genau zu erkennen und zu analysieren. Die intuitive Software und die automatisierte Wafer-Zentriermaschine machen es extrem einfach zu bedienen, während der Niederkraftscanner dafür sorgt, dass empfindliche Strukturen sicher gescannt werden.