Gebraucht MPI-FC LEDA-8S P7202-110 #9181610 zu verkaufen

MPI-FC LEDA-8S P7202-110
Hersteller
MPI-FC
Modell
LEDA-8S P7202-110
ID: 9181610
Tester.
MPI-FC LEDA-8S P7202-110 ist ein sehr zuverlässiger Prober, der für präzise Wafer-Sondierungsanwendungen in automatisierten Halbleitertest- und Messgeräten konzipiert ist. Dieser Prober verwendet einen vollständig integrierten 1-D-Laser-Doppler-Vibrometer (LDV) -Sensor, der für präzise Messungen optimiert ist. Der LDV-Sensor arbeitet mit einem linearen Aktor und einer Präzisionsoptik zusammen, um hochfrequente Signale auf der Oberfläche eines Siliziumwafers zu detektieren. Die Verwendung von LDV-Sensoren ermöglicht es dem Prober, winzige Vibrationen und Verformungen auf der Oberfläche des Wafers zu erkennen und ermöglicht so hochgenaue Messungen der Leistungseigenschaften des Wafers. Die fortschrittliche Steuerungsausrüstung des LEDA-8S ermöglicht es Benutzern, den Prober mit einer Reihe von maßgeschneiderten Sondierungssequenzen zu steuern, die auf verschiedene Arten von Wafer-Sondenmessungen abgestimmt sind. Insbesondere kann das System so konfiguriert werden, dass es während eines einzelnen Wafer-Sondierungszyklus eine Oberflächenzuordnung durchführt. Darüber hinaus ermöglicht die oszilloskopartige grafische Benutzeroberfläche des Probers dem Benutzer, die vom LDV-Sensor erfassten Bildschirmdaten zu visualisieren. Der Prober unterstützt auch verschiedene Programmiersprachen wie Python und C++, so dass Anwender maßgeschneiderte Steuerungsverfolgungs- und Datenextraktionsprozesse erstellen können. Die LEDA-8S Einheit ist mit Standardfunktionen für einfache Bedienung und Wartung, wie automatische Kalibrierung, eine Auto-Reinigungsmaschine und magnetische Schnellkabel ausgestattet. Darüber hinaus ist der Prober mit Standard-Automatisierungsprotokollen kompatibel und verfügt über ein hohes Signal-Rauschverhältnis, das genaue und zuverlässige Messungen ermöglicht. Die bemerkenswerten Merkmale von LEDA-8S P7202-110 machen es zu einer idealen Wahl für großflächige Wafer-Sondierungsanwendungen wie Hochleistungs-Halbleiterdetektion, Wärmeübertragungsanalyse und Belastungstests.
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