Gebraucht MPI-FC LEDA-8S P7202-110 #9181612 zu verkaufen

MPI-FC LEDA-8S P7202-110 ist ein Prober, der speziell für die Entwicklung von Halbleitervorentwicklungs- und Produktionstests entwickelt wurde. Der Acht-Sonden-Kopf bietet eine Hochgeschwindigkeits- und geräuscharme Testplattform, mit der Hochfrequenzsignale zum besseren Testen von Komponenten und Produkten verarbeitet werden können. Der Prober kann auch mehrere Sonden parallel durchführen, was ihn zum Testen mehrerer Komponenten oder Geräte geeignet macht. Der 8-Sonden-Kopf kann auch große Anzahl von Leiterbahnen gleichzeitig handhaben, um Testprozesse zu beschleunigen. Der Sondenkopf besteht aus präzise entwickelten Vakuum-Spitzen-Sonden, die für komplexe HF-Tests und die Analyse verschiedener Streifen oder Schichten entwickelt wurden. Es verfügt zudem über ein integriertes Flusszeigesystem, das es ermöglicht, Pads unterschiedlicher Größe und Form genau zu lokalisieren. Dieser Prober bietet ein automatisches Loadboard-Erkennungssystem zur einfachen Einrichtung und Bedienung. Es kann eine breite Palette von Formen und Größen erkennen und den Prober schnell zum Testen einrichten. Das automatische Schutzprogramm sorgt auch dafür, dass Komponenten nach dem Be- und Entladen fehlerfrei bleiben. Die Vielseitigkeit des LEDA-8S macht es auch für verschiedene Märkte nützlich. Es eignet sich optimal zum Testen von drahtlosen Produkten, Boards, ICs, Chipkarten und Modulen sowie anderen Arten von Produkten. Es ist auch gut für die Anforderungen des Automobilmarktes geeignet. Darüber hinaus sind die konfokalen Mikroskope, die mit dem LEDA-8S geliefert werden, nützlich, um qualitativ hochwertigste Messungen von Proben und Formen zu gewährleisten. Aufgrund seiner Leistung und Anpassung ist LEDA-8S P7202-110 prober eine beliebte Wahl für viele fortschrittliche Halbleiterproduktions- und Testprozesse. Dieser Prober ist so konzipiert, dass er den Anforderungen der Branche entspricht und eine höhere Effizienz und Genauigkeit ermöglicht. Es ist ideal für fortgeschrittene Forschungs- und Entwicklungsprojekte und hilft, eine schnelle Gerätecharakterisierung schnell und einfach zu erreichen.