Gebraucht MPI LEDA-P7202 #9258060 zu verkaufen

MPI LEDA-P7202 ist ein hochmodernes, kontaktloses Prober- und kontaktloses Sondenpositioniergerät, das eine breite Palette von Möglichkeiten für Wafer-Tests und -Analysen bietet. Der Prober ist mit einem vertikalen Abtastmechanismus ausgestattet, um eine präzise Ausrichtung von Sonden auf Waferoberflächen zu gewährleisten. Das Wafer-Platzierungssystem ist für Massenproduktionsprozesse ausgelegt und kann zur gleichzeitigen Bearbeitung mehrerer Wafer verwendet werden. Der Prober verfügt über einen einzigartigen und komplexen Funktionsumfang, der eine präzise Wafer-Positionierung und Sondenausrichtung für optimale Leistung gewährleistet. Dazu gehört eine Multisensor-Positioniereinheit, die zur Analyse der Topographie der Waferoberfläche großflächige Mustererkennung und kundenspezifische Algorithmen verwendet. Zusätzlich enthält die Maschine einen 3D-Wafer-Ausrichtmechanismus, der so eingestellt werden kann, dass die Sonden schnell und genau mit Waferkomponenten ausgerichtet werden. Darüber hinaus enthält der Prober auch einen ultrahochpräzisen Wafer-Spannmechanismus, der bis zu 50 Newton Klemmkraft erzeugen kann und eine sichere und stabile Wafer-Handhabung ermöglicht. Der Prober weist außerdem ein integriertes Wafer- und Sondenhebewerkzeug auf, das eine Beschädigung des Wafers während des Sondenausrichtvorgangs verhindert. Der Aufzug kann auf maximal 50 mm eingestellt werden und wird unabhängig über ein Handrad oder über einen PC gesteuert, wobei eine präzise und wiederholbare Positionierung von Wafer und Sonde gewährleistet ist. Ein weiteres wichtiges Merkmal dieses Probers ist das automatisierte Kompensationsmodell, das die Waferposition automatisch einstellt, um thermische Drift und Vibrationen auszugleichen. Der Prober enthält auch eine hochauflösende Abbildungseinrichtung, mit der die Ergebnisse der Wafertests überprüft werden können, ohne den Wafer mechanisch berühren zu müssen. Dieses System umfasst eine Digitalkamera, eine Laserbeleuchtung und eine Software zur Bildanalyse, mit der Benutzer genaue und zuverlässige Daten erfassen können. Darüber hinaus kann der Prober mit vielen anderen optischen Systemen wie einem optischen Mikroskop, IR- und UV-Spektrometern, Röntgenbildern und Fourier-Transformationssystemen ausgestattet werden. Schließlich kann der Prober entweder über eine dedizierte Software oder eine grafische Benutzeroberfläche ferngesteuert werden. Auf diese Weise können Benutzer das Gerät schnell und einfach programmieren, Wafer-Testprotokolle einrichten und automatisierte Prozesse ausführen. Der Prober ist auch mit vielen branchenüblichen Schnittstellen wie USB, GPIB, RS-232 und Ethernet kompatibel. Insgesamt ist LEDA-P7202 ein idealer Prober für Präzisionswafer-Tests und -Analysen, der hohe Leistung und Zuverlässigkeit bietet. Es nutzt modernste Technologien und Funktionen, die eine genaue und effiziente Sondierung gewährleisten und einfach in Serienumgebungen eingesetzt und betrieben werden können.