Gebraucht MULTIPROBE MP2B #9202456 zu verkaufen

MULTIPROBE MP2B ist ein Prober für kostengünstige und schnelle Wafer Sondierung und Tests. Es ist eine Lösung für verschiedene Test- und Wafer-Sondierungsanforderungen, da es in der Lage ist, bis zu 200 Wafer pro Stunde zu testen. Der Prober entspricht verschiedenen Industriestandards und wurde entwickelt, um konsistente und genaue Ergebnisse zu erzielen. MP2B besteht aus drei Teilen: einem Vakuumfutter, einem Probertisch und einem Proberkopf. Das Vakuumfutter wird verwendet, um den Wafer während der Prüfung oder Sondierung sicher zu halten. Dadurch wird eine korrekte Platzierung des Wafers gewährleistet und die Gefahr einer Fehlausrichtung minimiert. Der Probertisch ist ein schrittmotorisch angetriebenes Bewegungssystem, das das Wafer-Spannfutter unterstützt. Es hat einen großen Bewegungsbereich, der eine genaue Sondierung und Prüfung der Wafer ermöglicht. Der Proberkopf, der sich oberhalb des Wafers befindet, findet dort statt, wo die eigentliche Prüfung stattfindet. Es hat zwei Chips Schlitze, die eine Vielzahl von Sondierköpfe und Sockel für die Prüfung und Sondierung verwendet halten. MULTIPROBE MP2B ist für die Prüfung und Sondierung jeder Art von Wafergröße konzipiert. Es ist mit einem fortschrittlichen mechanischen und optischen Ausrichtungssystem ausgestattet, um genaue Testergebnisse sicherzustellen. Es ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Wafer-Typen zu handhaben, vom Flat-Chip bis hin zu Full-Chip-Wafern. Der Prober verfügt zudem über ein integriertes Echtzeit-Videosystem. Dies ermöglicht eine einfache Einrichtung von Waferbearbeitungs- und Testanwendungen. Darüber hinaus sorgen die automatischen Eingangskalibrierungs- und Wafer-Platzierungsfunktionen für konsistente und genaue Testergebnisse. Insgesamt ist MP2B Prober eine kostengünstige und effiziente Lösung für Test- und Sondierungsanwendungen. Es ist auf maximale Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit ausgelegt. Mit seinen Eigenschaften und Funktionen bietet es eine effektive Lösung für verschiedene Test- und Wafer-Sondierungsanforderungen.