Gebraucht NBK MPS-200 #9397408 zu verkaufen

NBK MPS-200 ist ein fortschrittlicher Prober zur genauen Messung und Inspektion von Waferstrukturen, Partikelverunreinigungen und anderen Defekten in der Halbleiterindustrie. Es ist mit erweiterten Funktionen ausgestattet, um die Analysegenauigkeit zu verbessern und die Analysezeit und -kosten zu reduzieren. MPS-200 ist mit einem leistungsstarken Schrittmotor ausgestattet, der jede Bewegung erfassen kann und eine hochpräzise Ausrichtung und Wiederholbarkeit der Messungen ermöglicht. Es hat eine XY-Auflösung von 0,7 Mikron und kann in einer Vielzahl von Wafergrößen betrieben werden. Seine Fokustiefe wird auch erweitert, um eine breite Palette von Trägerdicke und Partikelgröße aufzunehmen. NBK- MPS-200 können mit einer Vielzahl von Optionen wie einem erweiterten X/Y-Bereich, einer Auto-Kalibrierstation, einem Vakuum-Handler, einer automatischen Sondenrückzugsausrüstung und einem Diagnosesystem konfiguriert werden. Die Auto-Kalibrierstation ermöglicht eine hochgenaue Bildaufnahme und eine stabile Position zur Feinmessung. Der Vacuum Handler bietet Wafer-Aufnahme, Halt und Platzierung mit einer Vakuumeinheit, die Vibrationen reduziert und die Stabilität und Genauigkeit verbessert. Die automatische Sondenrückzugsmaschine sorgt dafür, dass Sonden während der Übertragung und Messung sicher und schnell installiert und zurückgezogen werden können. Weitere Merkmale der MPS-200 sind niedrige Vibration, geräuscharm, hohe Genauigkeit, hohe Messgeschwindigkeit und Hochleistungs-Multimode-Infrarot-Scan und thermische Analyse. Mit dem erweiterten NBK-Algorithmus können Fehler auf Waferoberflächen mit einer Wiederholbarkeit von plus oder minus 0,3 um und einer Empfindlichkeit von mindestens 0,01 erkannt und lokalisiert werden. Darüber hinaus verfügt NBK MPS-200 über ein leistungsfähiges Bildverarbeitungstool und Archivierungsfunktionen, mit denen der Benutzer Messdaten in einer sicheren Datenbank speichern kann. Dies gewährleistet Wiederholbarkeit und Genauigkeit von Messungen und Inspektionen. Darüber hinaus ist es in der Lage, die integrierte Analyse von Daten aus mehreren Messsystemen, so dass es die Beziehung zwischen Waferoberflächenmerkmalen und anderen Faktoren genau zu identifizieren. Zusammenfassend ist MPS-200 ein fortschrittlicher Prober, der für zuverlässige und genaue Wafermessung und -inspektion entwickelt wurde. Es verfügt über erweiterte Funktionen, um die Analysegenauigkeit zu verbessern und Analysezeit und -kosten zu reduzieren.