Gebraucht QMC DPS 600 #293590698 zu verkaufen

QMC DPS 600 ist ein fortschrittlicher Prober, der für die hochpräzise Sondierung und Prüfung von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Es ist in der Lage, bis zu 40 Wafer- oder Gerätetests gleichzeitig durchzuführen, was eine schnelle und genaue Prüfung großer Chargen von Halbleiterprodukten ermöglicht. DPS 600 wurde entwickelt, um stabile und zuverlässige Sondenpositionen bereitzustellen, die mit Hilfe eines präzisen Luftlagers und einer hochauflösenden optischen Positionierausrüstung aufrechterhalten werden. Dieses System ist mit einem fortschrittlichen automatisierten Testprogramm gekoppelt, das die genaue Anzahl der Tests in einem einzigen Zyklus steuern kann. QMC DPS 600 ist mit einer stark wiederholbaren Portalstufe gebaut, die präzise und zuverlässige Bewegungssteuerung bietet. Es ist mit einer hochauflösenden Bewegungssteuerung ausgestattet, die eine Echtzeit-Prozesssteuerung ermöglicht und sicherstellt, dass geprüfte Geräte die vorgegebenen Testparameter erfüllen. Darüber hinaus verfügt der DPS 600-Prober über zwei unabhängige Proberkopfbaugruppen, die es ermöglichen, Dual-Site-Tests durchzuführen und Testzyklen schnell abzuschließen. Der Prober verfügt über ein verstellbares Spannfutter und eine konfigurierbare Waferbearbeitungsmaschine, die es ermöglicht, eine Vielzahl von Wafergrößen und -formen zu testen. Der Prüfbereich des Probers lässt sich leicht einstellen, so dass kleine, dünne Wafer oder große Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 8 Zoll flexibel getestet werden können. Der Prober verfügt außerdem über ein integriertes Vergrößerungswerkzeug zur verbesserten Bildgebung und Fehlerprüfung, das einen effizienteren Testprozess ermöglicht. QMC DPS 600 prober ist ein effizientes und präzises Werkzeug zur Prüfung und Messung der Leistung von Halbleiterbauelementen. Die fortschrittliche Bewegungskontrolle und das automatisierte Testprogramm liefern präzise, wiederholbare Ergebnisse, die mit minimalem menschlichen Eingriff wiederholbar sind. Dieser Prober kann zum schnellen und genauen Testen und Debuggen von Wafern verwendet werden, um sicherzustellen, dass die Produkte die Spezifikationen ihres Zielmarktes erfüllen.