Gebraucht RUCKER & KOLLS / R&K 667 #65588 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 65588
Wafergröße: 6"
Manual probe station, 6"
X-Y travel, 6"
B&L Micro zoom optics: Up to 2000X
(2) Objectives.
RUCKER & KOLLS/R & K 667 ist ein Prober zur Hochgeschwindigkeitssondierung von gebundenen und ungebundenen Wafertestanwendungen. Die Sondenkartenausrüstung akzeptiert jede Art von Sondennadel und bietet flexible Steuerungs-, Kalibrier- und Diagnosefunktionen. Es ist mit einem fortschrittlichen Wafer-Sondierungssystem ausgelegt, um die höchstmögliche Sondiergenauigkeit bei minimaler Kraft zu erzielen. Das Gerät unterstützt bis zu 8 Standorte gleichzeitig und bietet eine optische und elektrische Fehlerprüfung für schnelle und genaue Tests. Der Prober verfügt über einen leichten, ergonomisch gestalteten Aluminiumrahmen, der für einen zuverlässigen und einfachen Zugang zu Testpunkten konzipiert ist. Seine fortschrittliche Sondiermaschine integriert zwei integrierte optische Sensoren, die eine schnelle und genaue visuelle Ausrichtung der Teststellen und eine schnellere Identifizierung der Sondenkontaktpunkte ermöglichen. Darüber hinaus minimiert seine patentierte Sondentechnik die Bewegung der Sonde und die Kontaktkraft, was zu stabilisierten Sonden auch bei Hochfrequenzanwendungen führt. Es enthält auch einstellbaren Spannfutterdruck und vorgespannte Ausrichtungsringe, um eine zuverlässige und wiederholbare Sondierung ohne übermäßige Kraft oder Beschädigung von Sonden oder Prüfstellen zu ermöglichen. Der Prober bietet auch einen automatischen Testadapter (ATA), der eine effiziente und zuverlässige Wafer-ID und Barcode-Erkennung, Standard-Dateiformate und sichere Online-Wafer-ID-Matching-Funktionen bietet. Das integrierte Sondierungs- und Datenlogging-Tool ermöglicht zusammen mit dem ATA effizientere und genauere Tests. Darüber hinaus kann das Asset mit verschiedenen benutzerdefinierten Software für eine detaillierte Analyse der Daten verbunden werden. R&K 667 prober wurde entwickelt, um zuverlässige und schnelle automatisierte Testdaten für alle Arten von Bindungstests bereitzustellen. Seine fortschrittlichen Eigenschaften und Fähigkeiten haben das Modell zu einem Muss für die Prüfung von Anwendungen in der Elektronik-, Automobil- und Luftfahrtindustrie gemacht. Das Gerät bietet eine Reihe von Wafer-Sondierungsoptionen und verfügt über die Flexibilität, an bestehende Systeme angepasst zu werden, was einen hocheffizienten und genauen Gesamtprüfprozess ermöglicht.
Es liegen noch keine Bewertungen vor