Gebraucht SEMICS Opus II #293586055 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein Prober zur Prüfung und Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterchips. Es wurde entwickelt, um zuverlässige elektrische Tests und Messungen von Halbleiterchips mit höchster Präzision und Genauigkeit bereitzustellen. Es ist in der Lage, genaue Prüfung von verschiedenen Arten von Einzelwerkzeugen, die auf einem einzigen Band oder Film und/oder auf einem mehrschichtigen Substrat platziert werden. Opus II verwendet verschiedene Techniken wie HF kontaktlos, UHV, XPS und WDX zum Testen kontaktloser Sonden in Kombination mit einem Satz von Wafern, die mit Muster- und Fensterlösungen ausgestattet sind. Die Ausrüstung wurde entwickelt, um hochgenaue Messungen auf kleinen Flächen und großen Flächen bereitzustellen. Der Einsatz einer berührungslosen Sondierung ermöglicht eine berührungslose Prüfung des Chips und reduziert die Gefahr von Oberflächen- oder mechanischen Beschädigungen der Halbleiterchips. Es trägt auch dazu bei, das Risiko von Fehlausrichtung und Oberflächenkontamination zu reduzieren, indem die Kontaktbereiche und potentielle Lichtbogen minimiert werden. SEMICS Opus II wird von dem Sondierungssystem SINGLS (Single and Large Surface) angetrieben, das eine Kombination aus kontaktlosen und kontaktbasierten Technologien zum Testen von Sonden verwendet. Diese Einheit ermöglicht die parallele Sondierung mehrerer Probenschichten und Wafer, was eine genauere und effizientere Prüfung ermöglicht. Darüber hinaus verfügt die Maschine über ein automatisiertes Wafer-Handling-Tool, das eine automatisierte Probenahme und Beladung von Wafern ermöglicht. Das Asset verwendet auch korrigierte Rahmen für Tests von bis zu drei verschiedenen Größen von Oberflächen, so dass genauere und schnellere Tests möglich sind. Opus II verfügt über eine integrierte Analyse-Suite, die umfassende Tools zur Analyse und Bewertung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterchips bereitstellt. Die Suite umfasst Funktionen wie spektrale, spektrale Bildgebung und Messanalyse-Tools, die alle verwendet werden können, um die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterchips zu bestimmen. Darüber hinaus bietet das Modell eine Trace-Ansicht, mit der Benutzer ihre Messungen schnell analysieren und die Ergebnisse analysieren können. SEMICS Opus II ist ein vielseitiger und leistungsfähiger Prober zur Prüfung und Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterchips. Es wurde entwickelt, um zuverlässige Tests und Messungen von Halbleiterchips mit einer hohen Präzision und Genauigkeit bereitzustellen. Das Gerät verfügt zudem über automatisierte Lade- und Testfunktionen sowie eine integrierte Analyse-Suite zur Datenanalyse und -auswertung. Das System eignet sich für komplexe Testanwendungen und ist die ideale Wahl für fortgeschrittene Testanforderungen.