Gebraucht SEMICS Opus II #293645158 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein Hochleistungsprober für die Halbleiterindustrie. Es dient zum Testen, Charakterisieren und Debuggen von Halbleiterbauelementen und integrierten Schaltungen (ICs). Der Prober bietet einen kompletten Satz von Funktionen und Funktionen, einschließlich Sondierung, Bildgebung und elektrische Charakterisierung. Es verfügt über eine automatisierte, programmierbare Schnittstelle und umfassende Testroutinen, mit denen ein Benutzer Komponenten, Chips, Pakete und Boards schnell und genau analysieren kann. Opus II prober bietet eine breite Palette von technischen Eigenschaften und Optionen, die es für eine Vielzahl von Industrie- und Forschungsanwendungen geeignet machen. Dieser Prober ist in der Lage, eine Vielzahl von physikalischen Tests durchzuführen, einschließlich Kontaktwiderstandsprüfung, Luftspaltmessung, dielektrische Durchbruchspannungsprüfung, elektrostatische Entladung (ESD) Prüfung und elektrische Leistungsüberwachung. Darüber hinaus bietet das Gerät erweiterte Bildgebungsfunktionen, die es Anwendern ermöglichen, hochauflösende Bilder des zu testenden Geräts zu erfassen und eine schnelle und genaue Analyse zu ermöglichen. SEMICS Opus II prober beinhaltet auch ein integriertes Vakuum-Mikroprobing-System, das eine hochpräzise Sondierung und Bildgebung mit minimaler Kontaktmanipulation ermöglicht. Das Gerät verfügt über fortschrittliche Software zur Echtzeit-Überwachung der elektrischen Signa und Überwachung der Kontaktkraft. Eine optionale Autokalibrierungsfunktion bietet die Möglichkeit, die thermische Drift der Kraftmessmaschine des Probers zu überwachen und anzupassen. Das Tool bietet zudem leistungsstarke Datenerfassungs- und Analysefunktionen mit Datenprotokollierung und visualisierten Analysefunktionen. Die Analysefunktionen ermöglichen es einem Benutzer, statistische Daten wie Mittelwert, Standardabweichung und Histogramme sowie anpassbare grafische Werkzeuge zu überprüfen, die eine detaillierte Analyse der Kontaktleistungsparameter ermöglichen. Opus II prober enthält außerdem eine zuverlässige Sondenwechseleinrichtung und eine intuitiv gestaltete GUI, die die Bedienung erleichtert. SEMICS Opus II ist ein effizientes, präzises Werkzeug zur Prüfung, Charakterisierung und Fehlerbehebung von Halbleiterbauelementen und integrierten Schaltungen. Seine erweiterten Funktionen und Optionen machen es für eine Vielzahl von Industrie- und Forschungsanwendungen geeignet und tragen dazu bei, das höchste Leistungsniveau zu gewährleisten.