Gebraucht SEMICS Opus II #293714774 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein Prober der nächsten Generation, der zum Testen fortschrittlicher Geräte in automatisierten Wafertestanwendungen entwickelt wurde. Es bietet die Fähigkeit, die anspruchsvollen Anforderungen der nächsten Generation Wafer-Test-Anwendungen zu erfüllen. Opus II verfügt über verbesserte und erweiterte Funktionen im Vergleich zu bestehenden Plattformen, die in der Halbleiterprüfung verwendet werden. SEMICS Opus II ist ein fortschrittlicher Prober mit hohem Durchsatz und hoher Flexibilität. Die in der Konstruktion enthaltenen Mechanismen gewährleisten eine genaue Gerätekonsistenzcharakterisierung. Opus II wurde mit VXI-Reglern und fortschrittlichen Messgeräten zur Messung elektrischer und optischer Parameter von Geräten entwickelt. Das Gerät misst die Geräteeigenschaften mit statistischer Sicherheit genau. SEMICS Opus II prober ist mit einem fortschrittlichen elektrischen Testsystem ausgestattet, das die neuesten Technologien und Instrumente zur genauen Messung von Geräteparametern verwendet. Die elektrische Testeinheit integriert kundenspezifische Sonden, kundenspezifische Lochkarten und eine breite Palette anwendungsspezifischer Testinstrumente. Die benutzerdefinierten Sonden bieten direkten Kontakt zu Gerätekontaktpads, während die benutzerdefinierten Lochkarten die Anzahl der für die Durchführung von Tests erforderlichen Zyklen reduzieren. Die Maschine ist auch mit optischen Prüfgeräten, wie Kameras und Lasern, zur weiteren Analyse von Halbleiterbauelementen ausgestattet. Die optische Prüfung ermöglicht eine weitere Charakterisierung der Geräte, wie Düsen- und Waferkarten, und führt die vollständige Wafer-Prüfung mit hoher Präzision durch. Zusätzlich ist der Prober mit einer Temperatur- und Feuchtigkeitskammer ausgestattet, mit der die Auswirkungen von Umgebungsbedingungen auf die Geräteleistung gemessen werden. Die integrierte Software-Suite des Probers bietet erweiterte Funktionen für eine umfassende Analyse der Testergebnisse. Die Software-Suite umfasst mehrere Module wie Probersteuerung, Test-Messung, Analyse und Datenspeicherung. Die Software kann konfiguriert werden, um die Anforderungen der Anwendung zu erfüllen, und es enthält auch Lehrmaterialien für die Verwendung des Probers. Opus II prober ist ein effektives Werkzeug für die Prüfung von fortschrittlichen Halbleiterbauelementen der nächsten Generation. Es wurde mit fortschrittlichen Funktionen entwickelt, um eine genaue Messung der Geräteeigenschaften zu gewährleisten und eine genaue Analyse der Testergebnisse sicherzustellen. Die integrierte Software-Suite bietet eine Reihe von Funktionen, einschließlich Probersteuerung, Test-Messung, Analyse und Datenspeicherung. Die Software ist auch einfach zu konfigurieren, um die Anforderungen der Anwendung zu erfüllen. Der Prober eignet sich für eine Vielzahl von Wafertestanwendungen, einschließlich fortgeschrittener Geräte.