Gebraucht SEMICS Opus II #9184456 zu verkaufen

Hersteller
SEMICS
Modell
Opus II
ID: 9184456
Weinlese: 2006
Full auto probers SMC CPU Ambient & hot Missing monitor & chuck 2006 vintage.
SEMICS Opus II ist ein Prober für fortgeschrittene Wafertests und Schaltungsauswertung von Halbleiterbauelementen. Es ist eine vollautomatische, hochmoderne Maschine zur fortschrittlichen Charakterisierung, Ertragsvalidierung und Gerätetests. Es verfügt über eine Vielzahl von Steuerungs- und Messsystemen mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche und einfach zu bedienender Software. Opus II wurde entwickelt, um herkömmliche elektrische Prüfverfahren wie Hochspannungs-, Niederspannungs- und Strommessungen sowie fortschrittliche dynamische Prüfprotokolle zu unterstützen. Es verfügt über kontaktlose und berührungslose Testfunktionen und unterstützt Multi-Beam-Tests, um mehrere Tests auf einem einzelnen Chip zu ermöglichen. SEMICS Opus II kann für Wafer-Tests mit integrierten Funktionen zur schnellen Fehlerlokalisierung und einer Reihe erweiterter Fehlerisolierungsfunktionen verwendet werden. Seine Unterstützung für DC und dynamische Tests kombiniert mit seiner Fähigkeit, parametrische und kleine Signalgerätetests durchzuführen, machen es besonders geeignet für Ertragsanalysen, Zuverlässigkeitsprüfungen, Qualitätssicherung und Fehleranalysen. Auf der Softwareseite umfasst Opus II eine umfassende Suite von automatisierten Gerätecharakterisierungs- und parametrischen Testwerkzeugen. Es verfügt über ein hohes Maß an Anpassbarkeit und unterstützt die vollständige Automatisierung des Testprozesses. Es bietet auch detaillierte Berichts- und Rückverfolgbarkeitsfunktionen, um sicherzustellen, dass alle Testdaten sicher gespeichert und leicht zugänglich sind. SEMICS Opus II ist eine ideale Lösung für Halbleitergerätehersteller auf der Suche nach einem zuverlässigen und kostengünstigen Probersystem. Es kombiniert Benutzerfreundlichkeit mit fortschrittlichen Testfunktionen, um zuverlässige und umfassende Wafertests zu ermöglichen. Es wurde gebaut, um den Anforderungen sowohl der Produktionsprüfung als auch der Forschung und Entwicklung gerecht zu werden.
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