Gebraucht SEMICS Opus II #9184457 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein hochmoderner Prober zur Sondierung fortgeschrittener Halbleiterschaltungen. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Sondierungs- und Testoperationen mit einer maximalen Auflösung von 25 Nanometern durchzuführen. Das Gerät ist mit einer 125um OmnimatrixTM Sondenkarte ausgestattet, die über Sicht- und Bildverarbeitungsfunktionen an Bord verfügt. Es verfügt über eine Präzisionsmusterstufe mit einem proprietären photonischen Strahl und erweiterte Automatisierungsfunktionen. Mit einem 24 „x 24“ Arbeitsbereich kann der Optus II große Geräte wie System-on-Chip (SoC) -Designs sondieren, und die fortschrittliche Optik bietet hochauflösende Sondierungsfunktionen auf beiden Seiten der Matrize. Der Optus II ist in der Lage, verschiedene Arten von Geräten zu untersuchen, einschließlich High-Pin-Count-ICs, gestapelte Formkonfigurationen, MEMS-Geräte, TSV-Pakete und Cu/Si/G/ckt-Pakete. Die automatisierte Kalibrierung reduziert die manuelle Ausrichtzeit und führt zu minimierten Sondenschäden. Die Sonde verwendet ein Zwei-Linsen-optisches System zur automatisierten Strahlfokussierung und Ausrichtung. Es unterstützt auch die automatisierte Tasterkalibrierung und Koordinatenausrichtung für präzise Signalaufnahme und zuverlässige Testergebnisse. Der Optus II ist in der Lage, genaue, wiederholbare Tests für Halbleiterbauelemente mit minimalem Bedienbeteiligung bereitzustellen. Seine automatisierten Test- und Sondierungsfunktionen können wertvolle Zeit sparen und menschliches Versagen reduzieren. Das Gerät unterstützt auch erweiterte Automatisierungsfunktionen wie programmierbare Sonden und Auto-Stop. Dies reduziert den Bedarf an manuellen Sondierungsvorgängen und ermöglicht eine schnelle, automatisierte und genaue Sondierung von Halbleiterbauelementen. Die automatisierten optischen Scanfunktionen des Optus II ermöglichen eine überlegene Auflösung und Verengung der Sondierungsdienste. Dies bedeutet eine erhöhte Empfindlichkeit und Genauigkeit der Ergebnisse. Es verfügt auch über geräuscharme, hochgenaue Sondierungs- und Testfunktionen, was zu zuverlässigen Testergebnissen führt. Das Gerät ist in der Lage, im Einzel- oder Multi-Die-Modus zu arbeiten und bietet Flexibilität für Serieneinsätze. Opus II ist ein leistungsstarker Prober, der sich gut für fortgeschrittene Sonden- und Testoperationen eignet. Es verfügt über eine 125um OmnimatrixTM Sondenkarte, die überlegene Auflösung, geräuscharme, wiederholbare Tests und erweiterte Automatisierungsfunktionen bietet. Mit einem 24 „x 24“ Arbeitsbereich kann der Optus II große Geräte wie System-on-Chip (SoC) -Designs sondieren und automatisierte optische Scanfunktionen ermöglichen feinere Sondierungsdienste und genauere Ergebnisse. Der Optus II eignet sich ideal zum Sondieren von High-Pin-Count-ICs, gestapelten Werkzeugkonfigurationen, MEMS-Geräten, TSV-Paketen und Cu/Si/G/ckt-Paketen mit minimalem Bedienbetrieb.