Gebraucht SEMICS Opus II #9268979 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist eine fortschrittliche Sondierungsausrüstung für fortgeschrittene Halbleiterbauelementanalyse. Das System wird verwendet, um die elektrischen Eigenschaften von Geräten zu bewerten und hilft, ihre Leistung zu optimieren. Es besteht aus einem Satz einzelner Sondierungskomponenten, einschließlich Controller, Prozessor und Software. Der Controller ist das Herzstück der Einheit und verwaltet die Sondierungsfunktionen. Es besteht aus einem DC Power Analyzer, Probing Head und einem motorisierten Linearantrieb. Der DC Power Analyzer ist mit einem Hochspannungsisolationsschalter zur Gewährleistung der Benutzersicherheit und einer unabhängigen SMU ausgestattet, die genaue Schrittspannungsmessungen ermöglicht. Der Probing Head unterstützt mehrere Sonden, um auch die komplexesten und kleinsten Transistorparameter zu erfassen. Der motorisierte Linearantrieb ermöglicht eine schnelle und präzise Positionierung der Sonden, um mehrere Punkte in einem Gerät zu analysieren. Der Prozessor ist für die Planung von Sondierungsvorgängen verantwortlich und bietet einen intelligenten Algorithmus, um eine effektive Sondierungsleistung zu gewährleisten. Darüber hinaus ist sie für die Datenerhebung und -analyse über ein maßgeschneidertes Softwarepaket verantwortlich. Die Software ist integraler Bestandteil der Maschine und besteht aus verschiedenen Modulen wie Testentwicklungsmodul, Testlaufmodul, Testergebnisanalyse und Parameterextraktion & Modellierung. Das Testentwicklungsmodul ermöglicht es Benutzern, die verschiedenen Parameter des Geräts zu erkunden, die dann über das Testlaufmodul getestet werden können. Dieses Modul bietet Benutzern grafische Analyse- und Berichtsverwaltungsfunktionen. Die Testergebnisanalyse ermöglicht es Benutzern, aussagekräftige Daten und Parameter aus den Ergebnissen zu extrahieren. Diese Daten können dann modelliert werden, um Beziehungen zwischen Parametern zu finden und eine weitere Optimierung zu ermöglichen. Insgesamt ist Opus II Prober ein fortschrittliches Werkzeug für die Halbleitergeräteanalyse. Es besteht aus einem robusten Controller, einem Verarbeitungsbereich und einer Software, mit der Benutzer die Eigenschaften von Geräten vollständig erkunden und modellieren können. Mit Unterstützung für verschiedene Arten von Sonden und einer Reihe intelligenter Algorithmen bietet das Asset die ultimative effiziente Datenerfassung und -analyse.