Gebraucht SEMICS Opus II #9284013 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist eine High-End-Prober-Ausrüstung für Hochleistungstests und Debugging von Wafer-Level-Geräten. Es wurde unter Berücksichtigung von Skalierbarkeit, Automatisierung und hoher Präzision entwickelt. Das prober-System besteht aus einer hochgenauen vollautomatisierten Sondierungsstufe, die zur Messung kleiner Merkmale mit Präzisionsstufen von bis zu 0,1 Mikrometern ausgelegt ist. Die Probereinheit ist mit einer großen Anzahl fortschrittlicher Sensoren zum Sammeln von Daten wie Temperatur, Spannung und optischen Signalen ausgestattet. Die prober-Maschine verfügt auch über eine Vielzahl von Präzisionsmessverfahren, wie elektrische, optische und thermische Sondierung, sowie eine ganze Reihe von speziellen Geräten für automatisiertes Mikroätzen, Laserätzen und CMP (chemisch-mechanisches Polieren). Alle diese Funktionen sind sehr vorteilhaft bei Wafer-Level-IC-Tests und helfen, subtile Designfehler und Gerätemikrostrukturen genau aufzudecken. Das prober-Tool ist auch in der Lage, Selbstkalibrierung und Ferndiagnose. In diesem Modus kann es alle selbst verursachten Fehler überwachen und korrigieren, um sicherzustellen, dass alle seine Ergebnisse hochgenau und wiederholbar bleiben. Der Automatisierungsaspekt des Prober-Asset ermöglicht auch die schnelle Beurteilung mehrerer Wafer parallel, wodurch die für die Prüfung jedes Wafers erforderliche Zeit erheblich reduziert wird. Darüber hinaus macht die Unterstützung mehrerer DUT-Typen Opus II ideal für eine Vielzahl von Anwendungen. SEMICS Opus II verfügt auch über mehrere erweiterte Fähigkeiten, wie die Fähigkeit, sich mit anderen Systemen zu integrieren, wie Automatisierungsausrüstung, so dass es in einer Vielzahl von Branchen arbeiten. Es verfügt auch über eine integrierte Datenanalyse-Suite, die extrem detaillierte und vielseitige Analyse der Gerätetestergebnisse bietet. Dies ermöglicht die schiere Identifizierung von Konstruktionsfehlern oder Fehlern von Beginn des Konstruktionsprozesses an. Opus II ist ein hochentwickeltes Probermodell, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Die Fähigkeiten dieser Ausrüstung machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für IC-Engineering-Unternehmen, die die Geschwindigkeit und Präzision ihrer Wafer-Level-Debugging-Prozesse maximieren möchten.