Gebraucht SEMICS Opus II #9383808 zu verkaufen

Hersteller
SEMICS
Modell
Opus II
ID: 9383808
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Wafer prober, 12" Tempareture: Ambient/Hot 2006 vintage.
SEMICS Opus II ist ein in der Halbleiterfertigung eingesetzter Prober. Es wurde entwickelt, um Geräte schnell, genau und präzise zu erstellen und in mehreren Schichten zu verarbeiten. Der Prober ist ein vollautomatisches System, das eine Vielzahl von Werkzeugen wie Kontaktscanner-Mikroskope, fortgeschrittene Bildgebungssysteme und Maschinen wie Mikrosonden und elektrochemische Potentialsonden verwendet. Diese Werkzeuge ermöglichen eine Vielzahl von Inspektions-, Analyse- und Industriestandard-Tests. Opus II prober bietet spezifische Fähigkeiten, um spezifische Produktionsanforderungen zu erfüllen. Es bietet eine automatisierte Positionierung und präzise Ausrichtung eines Wafers auf die Sondierungsstufe, Roboterscheibenhandling und Wafer bewegliche Belastung. Das Roboter-Wafer-Handling-System arbeitet in einer geschlossenen Umgebung, die eine Bewegung zwischen Wafer-Chucks und der Scan-Sonde ermöglicht. Das Kontaktscanmikroskop nutzt eine Vielzahl fortschrittlicher Bildgebungstechniken und bietet eine Auflösung von 22 Nanometern und eine vertikale Bildauflösung von 2,5 Nanometern. SEMICS Opus II verwendet auch eine einziehbare Sondenspitze, die mit einer speziellen Kalibriervorrichtung gekoppelt ist, um Oberflächenpotentiale genau zu messen. Dies ermöglicht eine zerstörungsfreie Prüfung von Materialien und/oder Vorrichtungen. Darüber hinaus ist der Prober in der Lage, gespeicherte Bilder automatisch zu analysieren, um Komponenten oder Defekte zu identifizieren und zu charakterisieren. Die automatisierte Maschine ist auch in der Lage, Schaltungsmessungen wie Widerstand, Strom, Spannung, IMD, Stromleckage, Hochspannung und thermische Analyse durchzuführen. Dieser fortschrittliche Prober ist für die Herstellung und Herstellung von Halbleiterteilen konzipiert. Opus II bietet eine optimale Plattform für die Hochgeschwindigkeitsprüfung von Komponenten und Materialien. Es bietet umfassende automatisierte Wafer-Lade-, Handhabungs- und Analysefunktionen, die mit anspruchsvollen Produktionsmengen Schritt halten können. Der Prober ist mit einem vielseitigen Funktionsumfang ausgestattet, der in der Lage ist, Komponenten in der Produktion zu handhaben und zu messen. Seine Fähigkeit, gespeicherte Bilder zu analysieren und automatisierte Messungen durchzuführen, bietet eine ausgezeichnete Plattform für Hochgeschwindigkeitstests von Komponenten und Material.
Es liegen noch keine Bewertungen vor