Gebraucht SEMICS Opus II #9407027 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein Prober, der zum Testen und Inspizieren von verpackten Geräten wie Speicher- und Logikschaltungen sowie anderen Geräten mit ebenen Oberflächen und Steckverbindern mit hohem Seitenverhältnis entwickelt wurde. Es ist ein automatisierter Wafer-Prober, der eine schnelle, genaue und zuverlässige Probeninspektion ermöglicht. Dieser Prober umfasst vier Positionsabtaststufen und eine präzise biegegegeführte Stufe für Proben bis 200 mm Größe und bis 500 m Höhe. Es verfügt über eine Hochgeschwindigkeitsbewegungsregelung, die eine Positioniergenauigkeit von bis zu 20 µm erreicht, was eine schnelle Ausrichtung und Positionierung der Proben ermöglicht. Der Prober nutzt fortschrittliche Visionstechnologie und automatisierte Waferausrichtung, die eine schnellere und genauere Probenüberprüfung ermöglicht. Opus II Prober bietet auch eine Vielzahl von Sondierungslösungen, einschließlich Kontakt-, Glovel- oder Infrarot-Sondierungsfunktionen. Darüber hinaus ist das Gerät mit einem einstellbaren optischen Mikroskop und einem bildgebenden System ausgestattet, das hochauflösende bildgebende Funktionen bietet und kleinere Defekte erkennen kann. Darüber hinaus verfügt der Prober über eine integrierte Selbstdiagnose, um Betriebsparameter zu überwachen und den Benutzer auf Probleme aufmerksam zu machen. Dies gewährleistet zuverlässige Leistung und schnelle Fehlerbehebung. Darüber hinaus umfasst das System SEMICS proprietäre Software für einfache Koordinatenprogrammierung und leistungsstarke Bearbeitungsroutinen sowie Unterstützung für Datenanalyse und Export. Für ultimative Sicherheit, SEMICS Opus II Prober kommt mit einer Vielzahl von Sicherheitsupgrades einschließlich einer benutzerfreundlichen Zugang Port, automatische Notabschalter, und ESD-Schutz.