Gebraucht SEMICS Opus II #9407031 zu verkaufen
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SEMICS Opus II ist ein fortschrittlicher Messtechnikprober zur Messung elektrischer Leistungen von aktiven und passiven Komponenten. Der Prober ist in der Lage, über eine breite Palette von elektrischen Parametern zu messen, einschließlich Temperatur, Spannung, Kapazität, Leitungsimpedanz, Frequenz, Strom und Widerstand. Mit seiner Kombination aus hoher Genauigkeit und einem breiten Spektrum an Messfähigkeiten eignet sich Opus II für eine Vielzahl von Aufgaben wie die Prüfung der Maskenabschlussprüfung, der Lot-to-Lot-Überprüfung und der Prozesscharakterisierung. Der Prober besteht aus zwei Hauptkomponenten, der eigentlichen Messeinrichtung und einer Rechnerschnittstelle. Die Meßeinrichtung integriert ein Bewegungssystem, das die einstellbare X- und Y-Achse steuert, und die Spitze, die zur Sondierung des Wafers und zum Senden von Meßsignalen dient. Das Bewegungssystem wird von Präzisionslinearmotoren angetrieben, was eine verbesserte Genauigkeit, Geschwindigkeit und Auflösung ermöglicht. Der Prober wird dann mit spezialisierter Software speziell für seinen Zweck entwickelt, so dass Techniker das Gerät leicht steuern und programmieren sowie Messergebnisse sammeln können. Darüber hinaus verfügt SEMICS Opus II auch über mehrere integrierte Funktionen, die Flexibilität bieten und seine Leistung verbessern. Ein automatisches Nivelliersystem ermöglicht die Ausrichtung der Spitze für eine verbesserte Genauigkeit, und automatische Erkennungsfunktionen helfen dem Prober, Verbindungen zu identifizieren und den Messvorgang automatisch zu beginnen. Der Prober verwendet auch mehrere Kommunikationsprotokolle wie Ethernet, USB und GPIB, was eine einfache Integration mit externer Hardware sowie eine Verbesserung des Durchsatzes ermöglicht. Insgesamt ist Opus II prober ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug, das sich für eine Vielzahl von elektrischen Charakterisierungsaufgaben eignet. Durch die Kombination von automatisierten Funktionen und spezialisierter Software ist es in der Lage, Messungen über eine Reihe von elektrischen Parametern mit beeindruckender Geschwindigkeit und Genauigkeit zu sammeln. Das breite Spektrum an Kommunikationsprotokollen ermöglicht auch eine einfache Integration mit externer Hardware, was seine Vielseitigkeit und den Gesamtdurchsatz der Messungen erheblich erhöht.
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