Gebraucht SEMICS Opus II #9407037 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein von sMicron entwickelter Halbleiteranalyseprober. Es ist eine High-End-Massenproduktionslösung, die entwickelt wurde, um die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben und Chips in modernen Produktionslinien genau zu messen. Sein fortschrittliches Design hat es zu einem der zuverlässigsten und genauesten Prober auf dem Markt gemacht. Opus II besteht aus verschiedenen Komponenten, die es ermöglichen, eine breite Palette von elektrischen Eigenschaften genau zu messen. Zu den Kernkomponenten gehören ein Wafer-Handling-Equipment, ein Wafer-Probing-System, eine optische Einheit und eine Ausrichtmaschine. Das Wafer-Handhabungswerkzeug ist zum sicheren Bewegen von Wafern zwischen der Sondierstation und dem optischen Gut ausgelegt. Dieses Modell verfügt auch über erweiterte Fähigkeiten für Präzisionsmessung und Kontrolle, um eine genaue Platzierung des Wafers zu gewährleisten. Die Wafer-Sondierung sorgt für eine gleichbleibend hohe Genauigkeit. Es verfügt über eine erweiterte Z-Stufe und X-Y-Stufe mit einem Sondierungskraftbereich von 500 μ N bis 10N und einer Sondierungskraftgenauigkeit von 0,1 μ N. Die Z-Stufe ist auch mit einer Reihe von austauschbaren Kontakten ausgestattet, um eine Vielzahl von verschiedenen Sondierungstechnologien unterzubringen. Das optische System ist das Herzstück von SEMICS Opus II prober. Es verfügt über zwei digitale Mikroskope, die unabhängig oder gemeinsam verwendet werden können, um Bilder von Waferoberflächen im Detail zu erfassen. Dieses Gerät verwendet auch einen integrierten Scanner, um Ausreißerpunktfehler und Inspektionen zu erkennen. Die Ausrichtmaschine von Opus II ist auch auf eine hohe Genauigkeit ausgelegt. Es verwendet ein automatisiertes Ausrichtungswerkzeug, um die Ausrichtung des Wafers in Bezug auf seine Sondenoberfläche genau zu bestimmen. Dieses Asset kann bis zu 10 Ausrichtungen speichern und eignet sich somit ideal für die effiziente Durchführung mehrerer Messungen. SEMICS Opus II prober ist ein fortschrittliches Modell, das präzise elektrische Messungen liefert. Es verfügt über eine intuitive, benutzerfreundliche Oberfläche, die es dem Bediener ermöglicht, Wafer in einer Produktionsumgebung schnell und genau zu messen und zu analysieren. Dieser Prober wurde entworfen, um die Anforderungen der Implementierung in Hochvolumen-Halbleiterherstellung zu erfüllen.