Gebraucht SEMICS Opus II #9407041 zu verkaufen

Opus von SEMICS II ist eine Mehrzweck-, Mehrkanaloberflächenanalyse prober erzeugt von SEMICS GmbH. Es wurde entwickelt, um eine breite Palette von Anwendungen zur Oberflächenanalyse wie Rasterelektronenmikroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie, Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Ionenstrahlabbildung und Tiefenprofilierung zu bedienen. Opus II bietet eine anspruchsvolle, benutzerfreundliche Multi-Channel-Plattform, die für jede Forschungs- oder Produktionsumgebung geeignet ist. SEMICS Opus II hat einen modularen Aufbau, der es Anwendern ermöglicht, verschiedene analytische Komponenten entsprechend ihren gewünschten Anwendungen zur Plattform hinzuzufügen. Die Hauptkomponenten von Opus II sind ein steuerbarer gasförmiger Luftstrom für Oberflächenbelichtungen, eine Probenstufe zur Aufnahme unterschiedlicher Probengrößen und mehrere Kanäle zur Verbindung verschiedener Sonden. Das System kann entweder in eigenständiger Form betrieben oder ferngesteuert werden. SEMICS Opus II ist in der Lage, hochauflösende Untersuchungen von Oberflächen und Schnittstellen mit hoher Präzision durchzuführen. Mit Hilfe der dreidimensionalen (3D) Bildrekonstruktionstechnologie können hochauflösende Bilder von verschiedenen Sonden wie Rasterelektronenmikroskop (SEM), Ultramikrotom und Rastertunnelmikroskop (STM) aufgenommen werden. So können Anwender Proben einfach und schnell in 3D scannen und die gesammelten Daten analysieren. Neben der 3D-Bildgebung bietet Opus II eine umfangreiche Auswahl an analytischen Sonden. Dazu gehören Auger Electron Spectroscopy (AES), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS), partikelinduzierte Röntgenemission (PIXE), sekundäre Ionenmassenspektroskopie (SIMs) und viele mehr. Diese Sonden wurden entwickelt, um den Anwendern eine gründliche und detaillierte Analyse der Probenoberflächen zu ermöglichen. Der Controller des SEMICS Opus II Systems ist ein intuitives und einfach zu bedienendes Softwareprogramm. Es ermöglicht Benutzern, die verschiedenen analytischen Kanäle der Plattform zu konfigurieren und zu steuern sowie benutzerdefinierte Analyseprotokolle zu erstellen. Die Software enthält auch Tools zur Interpretation und Berichterstattung der gesammelten Daten. Opus II ist ein zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug zur Oberflächenanalyse, das sich für alle analytischen Anwendungen eignet. Von der grundlegenden Oberflächencharakterisierung bis hin zu fortschrittlichen Produktions- und Forschungsanwendungen bietet es Anwendern konsistente und zuverlässige Ergebnisse von höchster Qualität.