Gebraucht SEMICS Opus II #9407044 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein Prober, der speziell für die Serien- und Engineering-Entwicklung und Prüfung von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Das Gerät eignet sich besonders zur Prüfung und Messung parametrischer Eigenschaften in Waferform und ist in der Lage, extrem hohe Sondengenauigkeiten in einem sehr kostengünstigen Formfaktor zu liefern. Die Funktionsliste von OPUS II beginnt mit seinem Hochgeschwindigkeits-Prober mit mehreren Standorten, der in der Lage ist, bis zu 8 parallele Kontakte gleichzeitig an vier verschiedenen Standorten durchzuführen, die jeweils bis zu 20K Datenparameter für die Pin-Level-Messtechnik verfolgen können. Die Probenhandhabungseinheit des Systems nutzt eine Kassette auf Kassettenbasis, die bis zu 600 Wafer in Größen von 3 „bis 8“ aufnehmen kann. Der Prober unterstützt auch die manuelle und automatisierte Beladung und eignet sich somit gut für Produktions-, Ingenieur- und Forschungs- und Entwicklungsanwendungen. SEMICS Opus II verfügt zudem über eine voll integrierte Wafer-Handhabungs- und Prüfstation mit einer hochpräzisen Messmaschine. Dieses Tool verfügt über ein hochauflösendes großformatiges bildgebendes Subsystem, um Testbereiche schnell zu erkennen und eine genaue Ausrichtung von Teststellen und Proberkontaktpunkten zu ermöglichen. Opus II verfügt außerdem über einen 25-Standorte-Schrittmotor, der einen reibungslosen, wiederholbaren Kontakt und eine kontrollierte elektrische Last und Prüfgeometrie gewährleistet. SEMICS Opus II eignet sich auch gut für die Analyse parametrischer Eigenschaften in Wafern, da es über eine ganze Reihe parametrischer Tests verfügt, wie gepulste IV-Tests, HFSIV-Tests und parametrische Tolregmeasurements. Das Asset unterstützt auch multiparametrische Messungen und gibt dem Anwender einen umfassenden Überblick über die Leistung von Halbleiterbauelementen. Opus II verfügt zudem über eine ausgeklügelte benutzerfreundliche GUI zur einfachen Navigation der komplexen Testumgebung und schnellen Navigation zu den gewünschten Tests und Messungen. Darüber hinaus bietet das Modell eine fortschrittliche statistische Prozesssteuerung in Echtzeit und einen anpassbaren Satz von Überprüfungs- und Statistikberichten. Hinsichtlich der Geräteleistung ist SEMICS Opus II auf Zuverlässigkeit und einen schnellen Durchsatz von 2GHz und Datenübertragungsraten von bis zu 53MB/s ausgelegt. Das Gerät ist in der Lage, bis zu 10000 Testwafer pro Stunde zu verwalten, wenn es mit mehreren Standorten und hohen Pin-Zahlen verwendet wird. Opus II ist der führende Prober für die Serien- und Engineering-Entwicklung und Prüfung von Halbleiterbauelementen. SEMICS Opus II bietet mit seiner Kombination aus zuverlässiger Hochgeschwindigkeitsleistung und einem umfassenden Funktionsumfang eine kostengünstige Lösung für eine schnelle und zuverlässige Prüfung von Halbleiterbauelementen.