Gebraucht SEMICS Opus II #9407046 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein fortschrittlicher Prober, der eine effiziente, kostengünstige Möglichkeit bietet, IC-Chips zu diagnostizieren, zu debuggen und zu charakterisieren. Es ist ein wichtiges Werkzeug für Ingenieure, die an der Entwicklung und Herstellung von IC-Chips beteiligt sind. Opus II Prober besteht aus einer Basismaschine, Proberkopf und einer Smart Prober-Karte. Die Basismaschine ist ein Hochgeschwindigkeits-Computer, der die fortschrittliche Software zur Steuerung des Probers und zur Verwaltung der Datenerfassung ausführt. Der Proberkopf wurde entwickelt, um Chips an jeder Position in seinem Sichtfeld zu übertragen und zu lokalisieren und den Überblick über getestete Pins aller Chips zu behalten. Die Smart Prober-Karte ermöglicht das Senden und Abtasten mehrerer Signale an jeder Position auf dem Proberkopf. SEMICS Opus II Prober wurde entwickelt, um mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu sondieren. Es hat eine XY-Auflösung von 0,04 µm und eine Z-Auflösung von 0,2 µm, was eine Submikron-Sondierung der kleinsten integrierten Schaltkreisverbindungen ermöglicht. Der hochautomatisierte Prozess erfordert eine minimale Einrichtung und ist in der Lage, mehrere Chips gleichzeitig zu verarbeiten und an mehr als 500 Standorten pro Sekunde zu sondieren. Die Echtzeit-Rückkopplung des Opus II-Probers eliminiert jegliches Rätselraten bei der Sondierung der IC (Integrated Circuit) -Parameter. Seine tiefgreifenden Charakterisierungs- und Analysefunktionen geben Ingenieuren sofortiges Feedback zur Leistung der Chips. Seine ausgeklügelten integrierten Algorithmen ermöglichen es dem Ingenieur, Anomalien zu identifizieren und die Ursache zu diagnostizieren. Darüber hinaus bietet die Testdatensammelfunktion einen tiefgreifenden Einblick in die Stabilität des Chips und ermöglicht eine frühzeitige Designoptimierung durch bessere Datenqualität. SEMICS Opus II prober ist einfach zu bedienen und wird durch exzellenten Kundensupport und Schulung unterstützt. Sein modularer Aufbau macht es zu einem anpassbaren Werkzeug, das an die spezifischen Bedürfnisse von Halbleiterunternehmen angepasst werden kann und ihnen Zeit und Geld spart. Insgesamt bietet Opus II prober eine zuverlässige, bequeme und kostengünstige Lösung, um IC-Chips zu testen und zu charakterisieren.