Gebraucht SEMICS Opus II #9407055 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist eine rekonfigurierbare, vielseitige und fortschrittliche Sondierungs- und Charakterisierungsausrüstung, die zur Durchführung von Präzisionsmessungen an einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Das System bietet ein umfassendes Spektrum an Sondierungstechnologien, wie vertikales Scannen, Kontaktbildgebung und physikalische Messtechnik. Die Maschine ist mit einem ladungsgekoppelten Gerät (CCD) und einem CMOS-Sensor zur Bildaufnahme, Bilderkennung und Auflösungsanalyse ausgestattet. Weitere Merkmale sind eine dynamisch verstellbare Stufe, eine drehbare X-Y-Z-Stufe, ein automatisiertes Werkzeug zur Objektmanipulation und ein Multiplexer zur Steuerung mehrerer Sondenspitzen. Opus II hat eine hohe Genauigkeit für kontaktlose und berührungslose Messungen. Es bietet eine breite Palette von Standard- und anpassbaren Sondierungsfunktionen, einschließlich Vorschubprofilometer, AFM, Kraftkurvenerfassung, Scherkraftmikroskopie, elektrisches Scannen und mechanische Kontaktmodussondierung. Die Anlage hat die Fähigkeit, eine Vielzahl von physikalischen Eigenschaften zu messen, einschließlich Oberflächentopographie (Kontakt und berührungslose AFM), mechanische Eigenschaften (Kraft-Weg-Kurven), elektrische Eigenschaften (Kapazität und Widerstand) sowie andere Eigenschaften wie Reibung und Mikro-Einbuchtung. Das Modell bietet auch erweiterte Analysefunktionen wie CoF-Messung, Oberflächenrauhigkeitsberechnung und Statistiken. Darüber hinaus bietet es eine Softwareplattform für anspruchsvolles Datenmanagement und -analyse, einschließlich automatisierter Datenüberwachung und Datenanalyse. SEMICS Opus II eignet sich für ein breites Anwendungsspektrum, von der Grundlagenforschung über Bildungszwecke bis hin zur Prozessabbaubewertung und Fehleranalyse. Diese Ausrüstung ist ideal für Labore, die harte Oberflächen und biologische Materialien erforschen, sowie solche, die eine Kontaktmesstechnik und zerstörungsfreie Prüfung erfordern.