Gebraucht SEMICS Opus II #9407059 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein leistungsstarker Multifunktionsprober, der für die Hochdurchsatz- und Hochpräzisionssondierung von Substraten einschließlich Halbleiter-, IC-Verpackungs- und Bildsensoranwendungen entwickelt wurde. Opus II Plattform bietet zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse für eine breite Palette von Substraten, einschließlich sowohl 3D-und 100 mm Wafer Maßstab Substrate. SEMICS Opus II verfügt über ein invertiertes Design, das ein hohes Maß an Substratzugänglichkeit und einfache Bedienung ermöglicht. Mit seiner patentierten SHM-Modulationssteuerungstechnologie sorgt Opus II-Prober für hohe Wiederholbarkeit, Genauigkeit und Effizienz im Substratprodding. Der Prober ist mit einer Vielzahl von Sonden ausgestattet, einschließlich lateraler und vertikaler SCM-Sonden, MEMS-Sonden, IC-Chip-Sonden und IC-Paket-Sonden, die mehr Flexibilität beim Testen von Substraten bieten. Der Prober ist auch mit gängigen Testsoftware-Programmen kompatibel und mit Industriestandards kompatibel. Um zuverlässige Ergebnisse zu gewährleisten, enthält SEMICS Opus II prober eine Reihe integrierter Sicherheitsfunktionen. Die Steuerung der Luftlagerbewegung ermöglicht eine reibungslose und präzise Bewegungsabgabe, wodurch die Gefahr einer unbeabsichtigten Beschädigung des Substrats während der Prüfung vermieden wird. Ein integriertes dynamisches 6-Achsen-Ausrichtungssystem erhöht die Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Ergebnisse, während der starre Rahmen des Probers Vibrationen und thermische Drift minimiert, um die Leistung zu verbessern. Darüber hinaus verfügt der Prober über eine benutzerfreundliche Oberfläche für einfacheren Zugriff auf alle Funktionen. Seine intuitiven Displays und Bedienelemente machen es den Bedienern einfach, Testparameter zu überwachen, zu steuern und anzupassen. Opus II umfasst auch umfassende Funktionen zur Datenerfassung und -verfolgung, sodass Benutzer die Ergebnisse schnell überprüfen und analysieren können. SEMICS Opus II prober ist ideal für eine Vielzahl von Prüfanforderungen und bietet zuverlässige, genaue und wiederholbare Leistung. Sein robustes Design, eingebaute Sicherheitsfunktionen, einfache Bedienung und umfassende Datenerfassungsfunktionen machen es zu einer idealen Wahl für alle Halbleiterprüfanforderungen.