Gebraucht SEMICS Opus II #9407063 zu verkaufen

SEMICS Opus II ist ein multifunktionaler Prober für elektrische Prüf- und Sondierungsanwendungen. Es ist für die Herstellung, Ausrüstung Debug und Fehleranalyse konzipiert. Opus II ermöglicht den schnellen und präzisen Zugriff auf Pins, was eine höhere Rückverfolgbarkeit der Testergebnisse und kürzere Zeiten für das Debuggen ermöglicht. Es kann eine Vielzahl von Probengrößen verarbeiten und kann auf beliebigen Substraten verwendet werden, von einfachen Platten bis hin zu komplexeren Baugruppen. Kernbestandteil von SEMICS Opus II ist die integrierte Kammer. Dies bietet eine geschlossene Umgebung und ist mit einem Vakuumgenerator ausgestattet, der es ermöglicht, Komponenten mit niedrigem Geräuschpegel oder empfindliche Geräte wie HF-Signale zu testen. Dies ist eine großartige Funktion zum Testen und Debuggen von Komponenten mit kurzen Zeitzyklen. Der Prober ist mit zwei integrierten Mehrfingerköpfen ausgestattet, die sich mit Geschwindigkeiten von bis zu 600kHz bewegen können. Der doppelte Fingerkopf ist kompatibel mit Mikrosonden-Sockeln, was Opus II zu einer praktikablen Lösung für die Sondierung von Substraten mit hoher Stiftanzahl macht. Der Prober unterstützt auch ein automatisiertes Inspektionssystem mit einer eingebetteten CCD-Einheit, die alle Komponenten auf einem Substrat identifizieren, lokalisieren und messen kann. Sie kann beispielsweise auf Maßmessungen, Höhe, Lage und Risse prüfen. SEMICS Opus II hat 24 verschiedene Spitzenformen, so dass sowohl lineare als auch Matrixarrays von Substratkomponenten getestet werden können. Der Prober ist dank der intuitiven OOS-Software, mit der der Prober je nach Bedarf angepasst werden kann, einfach zu bedienen. Die Software ermöglicht es auch, automatisierte Abläufe von Einstell- und Testvorgängen zu programmieren, um genaue und wiederholbare Tests zu ermöglichen. Opus II ist ein sehr zuverlässiger Prober, der für eine Vielzahl von Sondierungs- und elektrischen Prüfanwendungen verwendet werden kann. Die eingebaute Kammer sorgt dafür, dass alle Tests in einer geräuscharmen Umgebung durchgeführt werden, während der Doppelfingerkopf eine expansive Sondierung von Substraten ermöglicht. Die integrierte Inspektionsmaschine und die intuitive OOS-Software machen SEMICS Opus II einfach zu bedienen und äußerst effektiv.