Gebraucht SEMICS Opus III #293608191 zu verkaufen

SEMICS Opus III Prober ist eine leistungsstarke Multi-Controller-Einheit, die zum Sondieren und Testen integrierter Schaltungen (ICs) auf Wafer-Chips entwickelt wurde. Dieser Prober bietet schnelle und genaue Ergebnisse für Anwendungen in der Wafer-Charakterisierung, ATE-Tests und Fertigungstests. Opus III Prober ist mit einem Hochgeschwindigkeitsprozessor und fortschrittlichen Software-Algorithmen ausgestattet, um die Genauigkeit der Sondierung zu optimieren und die Zeit für Wafertests zu verkürzen. Sein einzigartiges Servosteuerungssystem trägt dazu bei, wiederholbare Testergebnisse im Laufe der Zeit sicherzustellen. Der Prober verfügt auch über eine Vielzahl von erweiterten Schnittstellen und erweiterte Sondierungsfunktionen, so dass er mit verschiedenen Arten von Testsystemen verwendet werden kann. Der Prober ist entworfen, um verschiedene Arten von Schaltungen schnell und genau zu analysieren und verschiedene Eigenschaften wie Spannung, Strom, Widerstand und Kapazität zu bestimmen. Das Gerät ist in der Lage, einen Wafer in wenigen Sekunden zu scannen, was ihn ideal für große Produktionsläufe macht. Seine fortschrittliche Optik ermöglicht genaue und wiederholbare Messungen. SEMICS Opus III Prober bietet auch flexible Konfigurationen, so dass Benutzer ihre Testanforderungen anpassen können. Es ist kompatibel mit einer breiten Palette von Test-Handling-Systemen und kann in Kombination mit mehreren Arten von Handlern verwendet werden. Das Gerät ist mit bis zu acht Köpfen konfigurierbar, was eine schnellere Prüfung und eine größere Anzahl von Proben ermöglicht. Opus III Prober wird von einer zuverlässigen, wartungsarmen und benutzerfreundlichen Softwareplattform angetrieben. Die benutzerfreundliche grafische Oberfläche der Software ermöglicht es dem Anwender, die Einstellungen schnell an seine Bedürfnisse anzupassen. Benutzer können die Software auch verwenden, um benutzerdefinierte Tests zu erstellen und detaillierte Berichte zu erstellen. SEMICS Opus III Prober ist ein äußerst zuverlässiger und effizienter Prober, der sich ideal für die Prüfung einer Vielzahl integrierter Schaltkreisanwendungen eignet. Seine erweiterten Funktionen und leistungsstarke Software machen es zu einer guten Wahl für Chiphersteller und Testingenieure, die schnelle und genaue Wafer-Testergebnisse benötigen.