Gebraucht SEMICS Opus III #293631659 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist ein Prober zur Prüfung von Halbleiterscheiben und -bauelementen. Es ist ein hochkonfigurierbares System mit vielen Funktionen, so dass es ideal für die Prüfung von großvolumigen, großflächigen Halbleiterprozessen ist. Es verfügt über ein einzigartiges zukunftsgerichtetes Datenerfassungssystem, das es ermöglicht, Fehler und Defekte auf einem Wafer schnell zu erkennen und gleichzeitig seine Eigenschaften zu testen. Die Maschine ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mit verschiedenen Sonden verbunden ist. Diese Sonden können elektrische, optische und andere Eigenschaften von Proben sowohl in Echtzeit als auch in statischen Messungen messen. Opus III ist zuverlässig, genau und empfindlich auf eine Vielzahl von Defektmustern. Es kann sowohl für grundlegende als auch für fortgeschrittene Tests verwendet werden, um sicherzustellen, dass die Qualitätssicherung während des gesamten Herstellungsprozesses aufrechterhalten wird. Der Prober kann so programmiert werden, dass Wafer-Maps für die Fehleranalyse erzeugt werden. Außerdem ist er mit einem Partikelzähler zum Nachweis und zur Identifizierung verschiedener auf der Probenoberfläche befindlicher Partikel ausgestattet. Dies hilft, die endgültige Qualität des Wafers zu bestimmen und Verunreinigungen zu erkennen, die auf dem Wafer vorhanden sein können. SEMICS Opus III ist auch in der Lage, Muster zu erkennen, so dass es verschiedene Defektmuster auf einem Wafer zu erkennen. Diese Funktion hilft, verschiedene Variationen von Defekten schnell zu erkennen, so dass die Probe schnell und genau überprüft werden kann. Ferner weist die Maschine mehrere Signalerfassungskanäle auf, die eine parallele Aufzeichnung von Signalen ermöglichen, wodurch der Zeitaufwand für einen Testzyklus verringert wird. Die Leistungsfähigkeit von Opus III wurde in zahlreichen Anwendungen wie Geräteherstellung und Verpackung getestet. Seine Leistung ist konstant zuverlässig und gewährleistet maximale Leistung und Qualitätskontrolle im Produktionsprozess. Es ist auch mit vielen gängigen Industriestandards kompatibel, einschließlich J-STD-001 (Semiconductor Devices Standard), was es zu einer idealen Wahl für anspruchsvolle Prüfbedingungen macht.