Gebraucht SEMICS Opus III #293644079 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist eine umfassende Prober-Ausrüstung für Wafer-Charakterisierung, die Sortierung und Fehleranalyse Anwendungen. Es ist sowohl äußerst zuverlässig als auch präzise und bietet erweiterte Messfunktionen für eine Vielzahl von Anwendungen wie Charakterisierung und Auswertung auf Waferebene, Bildgebung auf Chipebene, Pakettests sowie Fehler- und Fehlerlokalisierung. Opus III bietet durch seine Hauptmerkmale eine effiziente, kostengünstige Automatisierung und Produktionsrenditeoptimierung. Das System besteht aus drei Hauptkomponenten: einem Prober, einer Analyseeinheit und einem Diagnosewerkzeug. Der Prober besteht im Herzen der Maschine aus einer Waferbühne, einem Kopf und einem Stift. Die Waferstufe ist so ausgelegt, dass sie den Wafer während der Messung genau positioniert und der Sondenkopf eine Anordnung von Sondennadeln enthält, mit denen sowohl physikalische als auch elektrische Messungen durchgeführt werden können. Der Stift ermöglicht es dem Benutzer, verschiedene Punkte auf dem Wafer genau zu messen. Das Analysetool ermöglicht es dem Benutzer, automatisierte Messungen über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) zu konfigurieren und auszuführen. Es wird verwendet, um Wafer-Level-Bilder zu sammeln, elektrische Eigenschaften zu erfassen und Wafer-Maps für weitere Diagnostik und Fehlerauflösung zu erstellen. Das Asset kann außergewöhnlich kleine Details messen und sich schnell zwischen den verschiedenen Punkten auf dem Wafer bewegen, was Zeit und harte Arbeit spart. Das Diagnosetool unterstützt Bilder oder Software zur Offline-Fehleranalyse. Es enthält mehrere Funktionen, um die Untersuchung zu erleichtern, von der Aufzeichnung von Messdaten, der Spotprüfung vordefinierter Orte bis zur Berichterstattung. Fehler, die zu Formfehlern oder Leistungsfehlern führen, können mit diesem Tool leicht identifiziert werden. Um eine hohe Genauigkeit zu gewährleisten, arbeitet das Modell mit einer sehr präzisen Servoregelung. Es verfügt über Präzisionsstufen mit geschlossener Schleifenbewegungssteuerung und bietet eine präzise Positionierung des Wafers mit kodierten X-, Y- und Z-Achsen. Der Tastkopf ist für präzise elektrische Messungen ausgelegt und kalibriert sich automatisch. SEMICS Opus III ist eines der zuverlässigsten Probersysteme, das es zu einer idealen Wahl für Halbleiterherstellungs- und Chipprüfverfahren macht. Mit seiner fortschrittlichen Genauigkeit und Präzision kann das System eine effiziente, kostengünstige Automatisierung und Produktionsergebnisoptimierung liefern.