Gebraucht SEMICS Opus III #293663242 zu verkaufen

SEMICS Opus III prober ist eine umfassende und anspruchsvolle Wafer-Testplattform, die die Prüfung verschiedener Silizium-Wafer ermöglicht, darunter, aber nicht beschränkt auf, CZT, Silicon-on-Insulator (SOI), Dickschichtkeramik und Polyimidsubstrate. Der Prober basiert auf einem kapazitiv gekoppelten Feedback (CCF) -Design, das ein Array von 12 Elektroden nutzt, um Test- und Ergebnisdaten zu sammeln und zu analysieren. Dies geschieht durch Anlegen eines elektrischen Potentials über die Elektroden, so dass ein Signal detektiert werden kann, ob eine Vorrichtung unterhalb des Tastkopfes vorhanden ist oder nicht. Der Prober wird auch mit der Software geliefert, die für die Durchführung eines umfassenden Abwesenheits-/Präsenztests erforderlich ist, zusammen mit einzelnen Geräte- und Flächentests. Dank seiner Software und seines einzigartigen Designs ist das System in der Lage, kurze Hosen, Öffnungen, Teile von teilweise verbundenen Geräten und sogar extrem kleine Fehler schnell und genau zu erkennen. Es bietet auch optionale Kalibrierung, die Genauigkeit und Präzision verbessert, wenn extrem kleine Änderungen an der Konfiguration eines Geräts vorgenommen werden. Opus III ist auch in der Lage, Bilder des zu testenden Substrats auszudrucken, so dass Ingenieure nicht nur ein genaues Bild davon haben, was vor sich geht, sondern auch in der Lage sein werden, alle Probleme, die während der Wafertests aufgetreten sind, visuell zu überprüfen und zu untersuchen. Darüber hinaus ist SEMICS Opus III mit einer Hochvakuumproberkammer für leckagearme und wiederholbare Wafertests ausgestattet. Die Kammer hat mehrere Zwecke - Schutz der Waferoberfläche vor Verunreinigungen und Beschädigungen, Verringerung der Kontamination des Prüfkopfes und Bereitstellung einer ausgezeichneten Probe Gleichmäßigkeit und Wiederholbarkeit. Beispielsweise können Luftproben aus der Kammer bei Routinetests verwendet werden, um Probleme mit dem Substrat zu identifizieren, wie z.B. Verschmutzung auf Mikroniveau oder Fehlausrichtung, die zu ungültigen Daten führen könnten. Zusätzlich enthält der Prober einen einstellbaren Positionierer, der es ihm ermöglicht, sowohl den Test- als auch den Sondenkopf in der x- und y-Achsenebene zu bewegen. Der Positionierer ermöglicht es dem Benutzer auch, den Spaltabstand zwischen Prüf- und Tastkopf für eine verbesserte Genauigkeit und Wiederholbarkeit einzustellen. Insgesamt ist Opus III prober eine vielseitige und umfassende Plattform, die eine effektive Prüfung und Datenerfassung einer Vielzahl von Wafersubstraten ermöglicht. Dank des einzigartigen CCF-Designs, des einstellbaren Positionierers und der spezialisierten Software ist es die ideale Lösung, um die Qualität und Genauigkeit Ihrer Substrate sicherzustellen.