Gebraucht SEMICS Opus III #293731362 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist ein umfassender und vielseitiger Prober, der speziell für die Prüfung und Auswertung von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Dieser Prober bietet eine schnelle und integrierte Sondierungsplattform für eine breite Palette von Testanwendungen. Es bietet einen fortschrittlichen und zuverlässigen Sondierungsmechanismus für ICs auf Wafern. Der Prober kann für eine Vielzahl von Tests wie elektrische, mechanische, Fehleranalyse und Probencharakterisierung verwendet werden. Opus III wurde entwickelt, um bis zu 60 Elektroden mit einer maximalen Präzision von 20 Nanometern zu sondieren. Es ist in der Lage, effizient mit vollen Wafern zu arbeiten, und seine modulare Konstruktion ermöglicht eine einfache Installation verschiedener Lösungen entsprechend den unterschiedlichen Anforderungen jeder Anwendung. Mit seiner hohen Geschwindigkeit, Geräte jeder Größe zu bewerten, SEMICS Opus III Prober bietet schnelle genaue Sondierung in Einzel- oder Mehrfachform. Es umfasst auch eine breite Palette von Messtechnologien, wie Spannung, Strom, Widerstand, Kapazität und Temperatur. Alle Messungen werden präzise nach benutzerdefinierten Standards und Kriterien interpretiert und genau gemeldet. Opus III ist in ein ausgeklügeltes Softwaresystem integriert, das benutzerdefinierte Sondierungssequenzen und -programme ermöglicht, wodurch es einfach ist, den Prober an jede Anwendung anzupassen. Es unterstützt auch erweiterte Fehlerisolierungsmessungen. Mit seinen tiefgreifenden System-on-Chip-Testfunktionen ermöglicht SEMICS Opus III die einfache Prüfung und Auswertung jedes Geräts auf Wafer. Opus III unterstützt auch eine umfangreiche Bibliothek mit gängigen Sondenkarten sowie eine umfassende Liste fortschrittlicher Funktionen wie Slice und View, Signalleitung, Fehleranalyse, digitale Signal- und Leistungsintegrität und thermische Profilierung. Optionale Komponenten wie das Auto-Tester-Modul, die PACE-Programmierung und der Trace-Controller unterstützen die Leistung weiter. Insgesamt bietet SEMICS Opus III prober eine hochpräzise, effiziente und schnelle Lösung für die Halbleitergerätesondierung und -auswertung. Mit seinem umfassenden System von Testmethoden, fortschrittlichen Funktionen und benutzerfreundlicher Software ist Opus III prober die ideale Wahl für alle Halbleitertest- und Auswertungsanwendungen.