Gebraucht SEMICS Opus III #9189020 zu verkaufen

SEMICS Opus III
Hersteller
SEMICS
Modell
Opus III
ID: 9189020
Film frame prober.
SEMICS Opus III ist ein Prober für die automatische Prüfung integrierter Schaltungen mit hohem Durchsatz und vollautomatischem Funktionsumfang. Es unterstützt effektive Tests von VLSI-Geräten von gemoetrischen Layouts bis zur elektrischen Leistung. Opus III verfügt über eine erweiterte Pin-Synchronisation für den parallelen Zugriff auf mehrere Eingänge oder Ausgänge, wodurch gleichzeitig auf eine große Anzahl von I/Os zugegriffen werden kann. Dies wird durch die Multi Node Timing Techniken, die Testzeit und Overheads minimieren, weiter verbessert. Um eine genaue Inspektion zu gewährleisten, umfasst SEMICS Opus III eine 2D- oder 3D-vektorisierte Stufe, die die gleiche Ausrichtung effizient auf Testgeräte unterschiedlicher Größe anwendet. Es verfügt auch über eine Ausrichtungssteuerung, die manuell oder automatisch zum Ausgleich von Gerätedrift eingestellt werden kann und mit unterschiedlichen Steigungen und Geometrien arbeitet. Opus III verfügt über eine hohe Datenerfassungsrate von etwa 2 Millionen Kontakten pro Sekunde über eine WiFi/Ethernet-Verbindung und ermöglicht schnelle Testzyklen mit minimaler Testzeit. Es unterstützt auch mehrere Messungen, einschließlich Parametermessung, Hochgeschwindigkeitsüberwachung, Übertragungsleitungsmessungen und Quellmessgeräte. Der Prober ist auch mit einem Vakuum-Stift-Auswurfsystem ausgestattet, das über Druck oder Vakuum arbeitet, und einem Mini-Bohrsystem, das verwendet werden kann, um durch Prüfplattenanschlüsse zu bohren und Verkürzungs- und Öffnungsoperationen durchzuführen. Zusätzlich zu diesen Funktionen bietet SEMICS Opus III auch eine breite Palette von Sicherheitsfunktionen, einschließlich eingebauter Trägheitsüberwachung, aktiver Einschließung mit Surround View Vision, automatischer Rohr- und Bügelablenkschutz, klare Innenleitungsüberwachung und Stoßdämpfung. Diese Eigenschaften machen Opus III zu einem idealen Prober für automatisierte Tests von VLSI-Geräten. Es kann sowohl für Frühphasen-Labortests als auch für Serientests verwendet werden und liefert genaue und zuverlässige Ergebnisse mit minimalem Aufwand und Zeit.
Es liegen noch keine Bewertungen vor