Gebraucht SEMICS Opus III #9209249 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist ein Prober, der von SEMICS, einem Halbleiterunternehmen, das sich auf Prüf- und Inspektionsgeräte spezialisiert hat, entwickelt wurde. Der Prober ist ein automatisiertes Prüf- und Messgerät, das zur Sondierung und Überprüfung der elektrischen Eigenschaften von Wafern zur Fehleranalyse verwendet wird. Mit Opus III können verschiedene Faktoren identifiziert und bewertet werden, die die Leistung einer integrierten Schaltung beeinflussen können. Das System umfasst eine ergonomisch gestaltete Sondenstation und eine kompakte Controller-Konsole mit einer großen LCD-Touchscreen-Schnittstelle. Es verfügt über eine Auswahl an 2D- oder 3D-Scanning, 4-Kanal-elektrischen Tests und VGA- oder DVI-Sichtprüfung. Drei unabhängige Z-Stufen ermöglichen eine hohe Genauigkeit der x-y-Positionierung und automatisierte Wafer-Nivellierung. Die Sondenstation ist mit zwei XY-Achsen und einer Drehstufe sowie einem optionalen Mikroskop zur genaueren Inspektion ausgestattet. SEMICS Opus III ist in der Lage, mehrere Parameter wie Stromverbrauch, Leckstrom, Abtastspannung und Timing zu messen. Die integrierte Software zur statistischen Analyse gewährleistet genaue Messdaten mit der Fähigkeit, Testergebnisse zu erfassen und zu speichern. Benutzer können auch in der Vorschau gespeicherte Daten für schnellen Vergleich und Qualitätskontrolle zugreifen. Das Gerät ist in der Lage, eine Vielzahl von Wafergrößen zu handhaben und kann mit seinen erweiterbaren Testplattformen an eine bestimmte Anwendung angepasst werden. Es bietet eine Reihe von Testvorrichtungen für eine Vielzahl von Wafergrößen, so dass es für die meisten Wafer-Sondierungsanwendungen geeignet ist. Darüber hinaus ermöglicht die Hochgeschwindigkeitsfördermaschine ein effizientes und präzises Probenhandling. Im Hinblick auf die Sicherheit verfügt das Tool über eine Sicherheitsanlage nach Branchenstandard, die die Betreiber vor potenziellen Sicherheitsgefahren schützen soll. Es verfügt auch über eingebaute Brandmelde- und Alarmierungssysteme, um die Sicherheit zu gewährleisten. Weiterhin werden Doppellaserscanner eingerichtet, um eine Kollision der Instrumente gegeneinander zu verhindern. Insgesamt ist Opus III Prober ein hocheffizientes Test- und Messmodell, das den Anwendern genaue und zuverlässige Testdaten liefert. Mit seinem intuitiven Design und seinen fortschrittlichen Funktionen bietet das Gerät eine kostengünstige Lösung für Wafer-Sondierungsanwendungen.