Gebraucht SEMICS Opus III #9251172 zu verkaufen

Hersteller
SEMICS
Modell
Opus III
ID: 9251172
Prober Includes: Hinge Hot temperature ND4 Docking 2017 vintage.
SEMICS Opus III ist ein Prober, der für Wafer-Level-Tests entwickelt wurde. Es bietet Anwendern eine hohe Geschwindigkeit, hohe Präzision und zuverlässige Sondierungslösung mit verschiedenen Formgrößen. Opus III ist ein vollautomatisches Gerät. Es ist mit einer speziellen Pinzette wie Sondenkarte ausgestattet, die genau mit den Bondpads des Wafers in Kontakt kommt. Die Sondenkarte besteht aus einer speziellen Legierung, die eine Beschädigung des Wafers durch den Kontakt verhindert. Die Sondenkarte kann leicht verschoben werden, um Verbindungen mit dem HF und logischen Pads der Matrize herzustellen. Eines der Merkmale von SEMICS Opus III ist, dass es eine hohe Geschwindigkeit Scan-Zeit hat. Die Scan-Zeit ist einstellbar, so dass Benutzer die Sondierungsgeschwindigkeit entsprechend ihrem Bedarf anpassen können. Opus III kann auch Testmuster für Wafer in Gigabyte pro Sekunde herstellen. SEMICS Opus III kann auch Störungen, Störungen und potentielle Ausfälle in der Schaltung erkennen. Die Benutzeroberfläche von Opus III ist zudem benutzerfreundlich und intuitiv. Es verfügt über ein Touchscreen-LCD-Display, das Benutzern einen schnellen und einfachen Zugriff auf seine Funktionen und Einstellungen bietet. SEMICS Opus III kommt auch mit Software, die es Anwendern ermöglicht, ihren Testprozess anzupassen und Änderungen basierend auf spezifischen Testergebnissen vorzunehmen. Opus III ist einer der führenden Prober, die auf dem Markt erhältlich sind. Es bietet eine zuverlässige und qualitativ hochwertige Sondierungslösung für Hersteller, die ihre Produkte schnell und genau testen müssen. Die schnelle Scanzeit von SEMICS Opus III stellt sicher, dass die Tests effizient und schnell durchgeführt werden können, ohne das Risiko von ungenauen oder falschen Testergebnissen einzugehen. Darüber hinaus stellen die Benutzeroberfläche und die anpassbaren Einstellungen sicher, dass es den Herstellern leicht fällt, ihren Testprozess zu konfigurieren und bei Bedarf Änderungen vorzunehmen.
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