Gebraucht SEMICS Opus III #9254913 zu verkaufen

SEMICS Opus III
Hersteller
SEMICS
Modell
Opus III
ID: 9254913
Prober ST6730A Docking tester.
SEMICS Opus III ist ein fortschrittlicher, hochgenauer, automatisierter Prober, der speziell für die Halbleiter-Wafer-Sondierung entwickelt wurde. Seine Funktionen umfassen einen robusten, schnellen Sondierungsalgorithmus, der Präzision und schnelle Messung ermöglicht, eine fortschrittliche Messtechnik-Suite, um die Genauigkeit der Ergebnisse zu gewährleisten, automatisierte Datenanalysefunktionen und eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, um die Benutzerfreundlichkeit zu maximieren. Das integrierte Wafer Handling System wurde entwickelt, um Standardgrößen und Typen von Halbleiterscheiben sowie spezielle Wafer einschließlich 3-in, 5-in und SMD-Substrate zu unterstützen. Er kann je nach Prüfgeometrie bis zu vier Stellen pro Wafer sondieren und bietet eine große Auswahl an Sondierungszubehör. Die Konstruktion umfasst auch eine starre Rahmenstruktur zur präzisen Ausrichtung von Wafer-Spannfutter und Proberkopf sowie ein aktives Schwingungsdämpfungssystem. Opus III verfügt über eine fortschrittliche Messtechnik-Suite, die ein Vollfacetten-Messsystem umfasst, um eine genaue und effiziente Datenerfassung zu gewährleisten, und einen integrierten digitalen Bildbetrachter für eine schnelle Bildverarbeitung und Datenanalyse. Seine Datenanalysefunktionen ermöglichen auch die Korrelation aller Messergebnisse zwischen verschiedenen Standorten. Die intuitive grafische Benutzeroberfläche des Probers vereinfacht die Einrichtung und Bedienung und ermöglicht eine einfache Anpassung der Testparameter. Es ermöglicht es Benutzern auch, den Fortschritt der Tests zu überwachen und die Messergebnisse schnell zu bestätigen. Ein eingebettetes Programm ermöglicht das Speichern von Testkonfigurationseinstellungen und Sondierungsmustern sowie eine kontinuierliche Anleitung auf dem Bildschirm für Benutzer. SEMICS Opus III wurde nach höchsten Qualitätsstandards entworfen und gebaut und ist für anspruchsvolle Produktionsumgebungen gut geeignet. Sein hoher Durchsatz und seine Genauigkeit sowie sein breites Leistungsspektrum machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für die Herstellung und Prüfung von Halbleiterbauelementen.
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