Gebraucht SEMICS Opus III #9267367 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist ein kompakter, leistungsstarker Prober zur Prüfung integrierter Schaltungen. Es ist für die effiziente und genaue Sondierung von ICs bis zu 224 Pins konzipiert und ist in der Lage, sowohl nieder- als auch hochfrequente Designs zu sondieren. Opus III verwendet einen Hochgeschwindigkeits-Controller und ausgefeilte, fortschrittliche Algorithmen, um eine schnelle und zuverlässige Sondierung zu ermöglichen. Mit seinen modularen Erweiterungsfunktionen kann es so konfiguriert werden, dass es eine optimale Sondierungslösung für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. SEMICS Opus III ist aus einem modularen Engineering-Formfaktor aufgebaut, der eine einfache Integration in jede Produktionsumgebung ermöglicht. Zu den Hauptmerkmalen von Opus III gehören: hohe Sondiergenauigkeit, Hochgeschwindigkeitssondierung (bis zu 224 Pins in einer Sekunde pro Gerät) und Spitzennadelsondierungstechnologie. Die Controller-Platine wird von einem 32-Bit-Prozessor angetrieben, der Spitzenleistung gewährleistet, während der industrielle Aluminiumrahmen einen stabilen und zuverlässigen Betrieb auch in einer anspruchsvollen Umgebung bietet. Die fortschrittliche Nadelsondierungstechnologie von SEMICS Opus III ermöglicht eine äußerst zuverlässige und genaue Sondierungsanordnung. Die Nadel, ausgestattet mit MEMS (micro electromechanical system) Sensoren, ist in der Lage, Tausende von Stiften zu sondieren, ohne an Präzision zu verlieren. Es kann biegefreie, verjüngte Kontakte an jedem Stift automatisieren, was für die Prüfung von Feinsteigungs- und Hochgeschwindigkeitskonstruktionen von entscheidender Bedeutung ist. Opus III bietet auch die Möglichkeit, weiche Sonden nach Industriestandard einzusetzen. Diese Schnittstelle zu den fortschrittlichen Fokussierobjektiven sorgt für maximale Prüfgenauigkeit und Effizienz. Darüber hinaus ermöglicht die intuitive grafische Benutzeroberfläche des Controllerboards eine benutzerfreundliche Bedienung. Es kann in das Datenmanagementsystem von SFDC integriert werden und bietet eine vollständige Rückverfolgbarkeit jedes getesteten IC. SEMICS Opus III ist ein idealer Prober für eine Reihe von Anwendungen, einschließlich IC-Produktion und Forschung. Mit seinen Hochleistungsuntersuchungsfähigkeiten und fortgeschrittenen Algorithmen bietet es eine hoch zuverlässige und effiziente Lösung an, um integrierte Stromkreise zu untersuchen. Der modulare Aufbau macht Opus III zu einer idealen Wahl für verschiedenste Produktionsumgebungen.