Gebraucht SEMICS Opus III #9276658 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist ein hochmoderner Prober der SEMICS International Corporation, der beispiellose Leistungen in der elektrischen/thermischen Prüfung bietet. Opus III verfügt über zwei isolierte Hochspannungs-/Hochstrom-Kontaktmodule, um eine effiziente Prüfung moderner Halbleiterbauelemente zu gewährleisten. Diese Technologie verhindert auch alle Probleme der Spitze-Bruch und Überhitzung, die durch Hochspannung/Hochstrom-Kontakt Sondierung von empfindlichen Geräten entstehen kann. Das integrierte motorisierte optische Mikroskop ermöglicht eine breite Palette von Halbleiterdefektanalysen, wie extreme Nahaufnahmen, die mit seiner 5-Achsen-Bewegung leicht erreicht werden können. Diese Optik kann sowohl für die Makro- und Mikrobildgebung als auch für den radialen und vertikalen Zoom verwendet werden. Darüber hinaus umfasst der Prober eine Vielzahl von In-situ-Sonden zum Testen eines breiten Spektrums von Halbleiterbauelementcharakteristiken wie Strom und Spannung, Induktivität, Widerstand, Kapazität und mehr. SEMICS Opus III umfasst eine vollständig computergestützte Architektur für schnelles und effizientes Laden und Testen von Platinen. Das Gerät wird über ein 15-Zoll-Farb-Touchscreen-Display zusammen mit computergesteuerten Sonden programmiert. Unter Verwendung des verfügbaren 4GHz Single-Cluster-Steuerungssystems können mehrere Board-Testsequenzen gleichzeitig ausgeführt werden. Diese Fähigkeit, mehrere Platinen schnell zu testen, gewährleistet einen hohen Durchsatz an Prüfmustern, ohne die Genauigkeit zu beeinträchtigen. Neben den grundlegenden Prober-Funktionen umfasst Opus III auch eine Vielzahl weiterer Funktionen. Ein integrierter Busanalysator ermöglicht die automatische Analyse von bis zu 8 Bussen gleichzeitig und die Sitzungsaufzeichnung zur Wiedergabe verschiedener Kombinationen von Tests zur statistischen Analyse und verbesserten Boarddiagnostik. Das fortschrittliche, auf Hochgeschwindigkeits-Vision basierende Sondenplatzierungssystem und seine proprietäre Technik der Ausrichtung von Leiterplatten ermöglichen die automatisierte Platzierung von Sonden schneller als herkömmliche manuelle Sondierungsmethoden. Um eine möglichst hohe Messgenauigkeit zu gewährleisten, wird das Gerät ständig temperaturkompensiert, um selbstinduzierte Fehler zu reduzieren. Darüber hinaus ermöglicht SEMICS Opus III, mehrere Boards nebeneinander zu testen, so dass Messungen identischer Boards durchgeführt und auf weitere Genauigkeit verglichen werden können. Darüber hinaus beseitigt der innovative Algorithmus der automatischen Kompensationsfunktion des Probers Abweichungen bei den Messungen aufgrund externer Faktoren. Opus III ist ein leistungsstarker, präziser Prober, der die anspruchsvollsten Anforderungen an die Analyse und Prüfung von Leiterplatten erfüllt. Mit seinen vielfältigen Funktionen und verbesserten Leistungsmerkmalen ist SEMICS Opus III ideal für die Untersuchung und Prüfung der kompliziertesten Halbleiterplatten und -bauelemente.