Gebraucht SEMICS Opus III #9285131 zu verkaufen

SEMICS Opus III (auch O3-Prober genannt) ist ein Halbleiter-Wafer-Prüfprober, der von SEMICS Inc. Opus III wurde mit einer modularen Architektur entwickelt, die eine einfache Skalierbarkeit und Anpassung an die Anforderungen jeder Wafer-Testumgebung ermöglicht. Der O3-Prober ist eine All-in-One-Wafer-Testplattform, die Wafer in jeder Form wie Keil, Quadrat und Durchgangsloch testen kann. Es wurde entwickelt, um mehrere Testkonfigurationen zu unterstützen, wie Einzelwafer, Mehrfachwafer, Mehrfachstempel oder mehrere Lostests. Der O3 Prober ist mit einer mehrstufigen Ladeschloßkammer zum Be- und Entladen von Wafern ausgestattet, die sicherstellt, dass jeder Wafer gleichmäßig mit Genauigkeit und Wiederholbarkeit getestet wird. Die Temperatur der Lastschloßkammer kann von 0-400 ° C gesteuert werden (die maximale Temperatur ist vom Material des Wafers abhängig). Die Vorrichtung enthält auch einen Wafer-Mapper, der die Position jedes Werkzeugs auf mehreren Wafern zur genauen Positionierung von Wafern während des Prüfvorgangs abbilden soll. Der Prober verfügt über ein leistungsstarkes Motorantriebssystem, das in der Lage ist, Wafer und Prüfgeräte mit einer Bewegungssteuerungsgenauigkeit von 1 μ m und einer Geschwindigkeitsgenauigkeit von 2 μ m/s genau zu positionieren. Es ist auch mit einem High-Speed-optischen Ausrichtungssystem ausgestattet, um eine genaue und präzise Ausrichtung der Wafer während der Prüfung zu gewährleisten. Für die elektrische Prüfung ist der O3-Prober mit mehreren E/A-Kanälen hoher Dichte ausgestattet, die bis zu 8 Wafer gleichzeitig testen können. Es unterstützt eine Vielzahl von elektrischen Testinstrumenten, wie Kurventracer, Relais, Schalter und Logikanalysatoren. Darüber hinaus kann der O3-Prober durch sein integriertes Kamerasystem zur Sichtprüfung und zur Leckprüfung von Wafern verwendet werden. Insgesamt ist der O3-Prober eine leistungsfähige und zuverlässige Wafer-Testplattform, die höchste Leistung und Genauigkeit für Wafer-Testanwendungen bietet. Es ist mit den neuesten Technologien ausgestattet, um eine Vielzahl von Halbleiterscheibentypen und -konfigurationen effizient zu testen, und sein modularer Aufbau ermöglicht eine einfache Skalierbarkeit und Anpassung.