Gebraucht SEMICS Opus III #9350492 zu verkaufen

SEMICS Opus III prober ist ein umfassendes und vielseitiges Halbleiter-Wafer-Testsystem zur Ausführung von Wafer- und Device-Prober-Operationen. Es unterstützt viele verschiedene Arten von Wafer-Tests, einschließlich Full-Wafer-Level-Produktion, Wafer-Sortierung, Engineering-Wafer, die Sortierung, Komponente und Zuverlässigkeit Tests. Opus III prober bietet Sondierungslösungen für eine breite Palette von Anwendungen auf Wafer- und Geräteebene, einschließlich HF-, analoger, digitaler und gemischter Signalgeräte. Das Design des Probers verfügt über eine einzigartige benutzerfreundliche Oberfläche, die eine umfassende Bibliothek mit Tests und zugehörigen Parametern bietet. Es bietet volle Wafer- und Geräte-Level-Programmierung von einem einzigen Desktop-PC, sparen Testoperatoren Zeit Debugging-Software und Änderungen vornehmen. Dies verringert die Komplexität der Wartung mehrerer Geräte während des Testzyklus und ermöglicht es dem Bediener, sich auf Tests und Analysen zu konzentrieren. SEMICS Opus III prober verfügt über eine umfangreiche Test- und Messbibliothek für eine Vielzahl von Anwendungen. Diese Tests können bis zu 19 Parameter erkennen, identifizieren und melden, einschließlich Position, Verbindungsleckage, Isolationsleckage, Verbindungskapazität, Schwellenspannung und Kanallängenmessungen. Es bietet auch integrierte videobasierte Werkzeug- und Stempelerkennungsmethoden für Scan-Tests. Die Scantechnologie ermöglicht es dem Prober, die Testabdeckung zu maximieren und dadurch eine höhere Genauigkeit und Datengenauigkeit im Prozess zu erzielen. Opus III Prober ist auch mit einer Reihe von Funktionen ausgestattet, die über Wafer-Tests hinausgehen. Es enthält eine offene Plattform für das Hosting von benutzerdefinierten Software- und Hardware-Plugins, die ein höheres Maß an Anpassung und Skalierbarkeit ermöglicht. Der Prober enthält auch Optionen für die Handhabung unterschiedlicher Wafergrößen und Vorausrichtungswerkzeuge für eine schnellere Beladung von Wafern. SEMICS Opus III verfügt außerdem über eine Reihe fortschrittlicher Bewegungssteuerungssysteme, die schnellere Testoperationen ermöglichen und Bewegungsartefakte für eine bessere Genauigkeit reduzieren. Weitere Merkmale des Opus III-Probers sind softwarebasierte Pass/Fail-Analysen, integrierte Leckprüfungen und Widerstandstests zur Charakterisierung von Gerätefunktionen. Es kommt auch mit einer API (Application Programming Interface) für die Integration in bestehende Testsysteme, sowie eine flexible Power Upgrade-Optionen bieten tiefergehende Berichtsspalten. Schließlich umfasst der Prober eine Reihe fortschrittlicher Sicherheits- und Sicherheitsmerkmale wie elektromagnetische Störungen (EMI) und Datensicherheit.