Gebraucht SEMICS Opus III #9363162 zu verkaufen

Hersteller
SEMICS
Modell
Opus III
ID: 9363162
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 2010
Prober, 8"-12" Prospecting area: X: ±175 mm Y: ±165 mm Precision: X: ±1 µm Y: ±1 µm (3) Halls: Temperature range: Ambient to 150°C Environment: 25°C 2010 vintage.
SEMICS Opus III ist ein vollautomatisierter Die-and-Frame Prober, der von SEMICS Corporation entwickelt wurde. Es ist ein kompaktes, kostengünstiges und multifunktionales Wafer- und Düsensondiergerät, das eine genaue Sondierung aller Arten von Geräten bietet, einschließlich fortschrittlicher Logikschaltungen, SoC und MEMs. Opus III verwendet einen 8-Mikrometer-Schrittmotor für die Stempelpositionierung, der eine Positioniergenauigkeit von besser als 3 Mikrometer über einen Bereich von bis zu 3,4 mm bietet. Es verfügt auch über eine hochpräzise kapazitive Sonde und eine fortschrittliche Servo-Skalierungstechnologie, um wiederholbaren Kontaktwiderstand und gleichmäßige Kontaktkraft zu gewährleisten. Die Sondenkarte ist mit branchenführendem Kantenschutz zum Schutz von Sondenspitzen und angrenzender Matrize ausgestattet. Das System verfügt auch über Hochgeschwindigkeits-2D-Strobing für verbesserte Feinabtastung. Dies unterstützt die Feinabtastung von MEMS-Geräten (Micro-Electro-Mechanical Systems) mit komplizierten Strukturen und höheren Kapazitätsbereichen. Das Gerät unterstützt auch eine Vielzahl anderer Sondierungstechnologien wie Scannen und Biegen/Dehnen-Sonden, die ebenfalls auf Genauigkeit und Zuverlässigkeit ausgelegt sind. Die Benutzeroberfläche von SEMICS Opus III ist intuitiv und benutzerfreundlich und bietet Bedienern eine breite Palette von Befehlen und Parametern. Die Maschine verfügt über eine programmierbare/einstellbare Umgebung, so dass Benutzer den Prober an ihre spezifischen Anwendungsanforderungen anpassen können. Es enthält auch einen integrierten grafischen Echtzeit-Monitor, der die Echtzeit-Steuerung des Werkzeugs ermöglicht. Insgesamt ist Opus III ein zuverlässiger, leistungsfähiger und kostengünstiger Wafer- und Die-Probing-Vermögenswert, der ausgezeichnete Genauigkeit und Einheitlichkeit zu einem Bruchteil der Kosten anderer Systeme liefert. Es ist eine ideale Wahl für Anwendungen, die eine genaue und wiederholbare Sondierung kleiner, hochdichter und feinteiliger Geräte erfordern.
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