Gebraucht SEMICS Opus III #9378092 zu verkaufen
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SEMICS Opus III ist ein Prober, der speziell für Hochspannungsprüfungen, Halbleitergerätesondierung und Geräteüberprüfung für Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Sein vollautomatisiertes Design ist für Tests mit hohem Durchsatz, niedrigen Kosten und wartungsarmer Wartung optimiert. Opus III enthält Qualitätskontrollfunktionen, die dazu beitragen, Industriestandards für zuverlässige und genaue Tests zu erfüllen. SEMICS Opus III besteht aus einem Testsystem und einer Sondenstation, mit bis zu sechs Multi-Pin-Probe (MPP) Module-Tastköpfen für automatisierte Hochvolumentests. Das MPP-Modul verfügt über ein Dual-Probe-Card-Design, das eine gleichzeitige Prüfung von bis zu sechs verschiedenen Pins ermöglicht. Jeder Pin ist vollautomatisiert und individuell kalibriert, um Hochstromgeräte präzise zu testen. Das Design der Dual-Probe-Karte minimiert zudem die Kontamination und sorgt für einheitliche Testbedingungen. Die Testeinheit kann so programmiert werden, dass sie eine Vielzahl von Testsequenzen und Bedingungen für verschiedene Testanforderungen unterstützt. Es umfasst eine netzwerkbasierte Maschinensteuerung, Testgeräte, Netzteile und ein Wärmebildmodul zur Analyse von thermischen Effekten auf Geräte. Es unterstützt eine breite Palette von Gerätepaketen und großen integrierten Schaltungen (LSI) bis 200mm Größe. Die Steuerung ist mit einem Echtzeit-Bedienwerkzeug konfiguriert, das eine parametrisierte Auslegung von Testabläufen und eine Echtzeitüberwachung von Tests ermöglicht. Opus III bietet Hochgeschwindigkeits-Testfunktionen für Validierung und Qualitätskontrolle auf Asset Level. Testbeschleunigungsfunktionen umfassen vektorbasiertes Timing (VBT) und Single-Pulse-Analyse (SPA) für verbesserte Testleistung. SEMICS Opus III bietet automatisierte Tests für bis zu 12 I/O-Pins, 100 µs Wiederholfähigkeit und eine 20ns Scan-Zeit für mehrere Geräte. Opus III bietet eine vielseitige Plattform zum Sondieren und Testen verschiedener Geräte. Es ermöglicht eine kontinuierliche Überwachung der Geräteeigenschaften, ist wiederholbar und wurde entwickelt, um hohe Erträge und genaue Testergebnisse zu erhalten. Die Software- und Hardwarekonfiguration ist für eine schnelle Einrichtung und einfache Kommunikation mit Produktionstestsystemen konzipiert. SEMICS Opus III ist eine ideale Wahl für die Qualitätskontrolle und Produktionsprüfung von Halbleiterbauelementen.
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