Gebraucht SEMICS Opus III #9378095 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist ein professionelles Sondierungssystem zur Messung und Analyse von Halbleiterbauelementen. Es bietet eine umfassende und vielseitige Lösung für alle Mess- und Prüfaufgaben in der Halbleiterproduktion. Opus III wird mit zwei Hochleistungsmehrkanalmikroskopbildaufbereitungssystemen mit einer maximalen Entschlossenheit von bis zu 45 µm ausgestattet, volle 3D-Bildaufbereitungsfähigkeiten zum Gerät unter dem Test berücksichtigend. Der Tastkopf hat einen verstellbaren X/Y-Positionierer, eine verstellbare Z-Stufe und ein Vakuumfutter zur Handhabung kleiner Proben. Die flexiblen optischen Ausricht- und Fokussiermechanismen bieten höchste Präzision und Genauigkeit für schnelle Probenmanipulation und -prüfung. SEMICS Opus III verfügt über eine große Auswahl an leistungsstarken Sondierungsmodulen mit verschiedenen Optionen für unterschiedliche Sondierungs- und Datenerfassungsstrategien. Die beliebtesten sind thermische, elektrische und mechanische Sondierung. Das thermische Sondiermodul ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Messung von Temperaturprofilen eines zu prüfenden Gerätes. Das elektrische Prüfmodul bietet eine Reihe von Spannungs- und Stromprüffunktionen, um die Qualität des Gerätes zu überprüfen. Das mechanische Sondiermodul ist in der Lage, hochpräzise Datenmessungen zur Messung widerstandsfähiger und widerstandsfähiger Eigenschaften eines Gerätes durchzuführen. Opus III verfügt auch über eine breite Palette von Analysewerkzeugen, einschließlich Bildverarbeitung, thermische und elektrische Datenanalyse und mechanische Datenuntersuchung. Die benutzerfreundliche grafische Software ermöglicht eine einfache Navigation durch die umfangreichen Menüs und Hilfedateien. Das System ist mit einer offenen Architektur ausgestattet, die die Integration mit anderen bestehenden Softwarepaketen und Tools ermöglicht. Darüber hinaus kann das System für komplexere Messungen an externe Signalquellen wie Temperatur- oder Spannungsquellen angeschlossen werden. Die hohe Funktionalität von SEMICS Opus III macht es zu einer zuverlässigen und leistungsstarken Lösung zur schnellen und genauen Inspektion und Analyse von Halbleiterbauelementen.