Gebraucht SEMICS Opus III #9393617 zu verkaufen

SEMICS Opus III
Hersteller
SEMICS
Modell
Opus III
ID: 9393617
Prober.
SEMICS Opus III ist eine spezialisierte Art des Sondierungsprozesses, die von denen, die genaue und zuverlässige Ergebnisse suchen, sehr gesucht wird. Es ist eine Technik, die von verschiedenen Organisationen verwendet wird, um das Korn und die Struktur einer Probe zu analysieren, um ihre physikalischen Eigenschaften zu bestimmen. Insbesondere ist Opus III eine 3-dimensionale elektronenmikroskopisch unterstützte Sondentechnik. Es verwendet eine speziell entwickelte SEM-Sondenausrüstung mit einer hochauflösenden CCD-Kamera, die die dreidimensionale Oberfläche einer Probe abbildet. Die hochpräzise Sonde besteht aus einem Multilinsen-Objektivsystem, einer Rasterelektronenmikroskopsäule und verschiedenen anderen Komponenten. Diese Einheit ist in der Lage, eine Auflösung von 3 Nanometern zu erreichen, was die Auflösung und Genauigkeit komplexer Analysen deutlich verbessert. Im Betrieb scannt SEMICS Maschine zuerst die Oberfläche der Probe in drei Dimensionen, um ein Bild der physikalischen Struktur zu erfassen. Dieser digitale Scan wird dann auf verschiedene Frequenzen und Muster analysiert, die Einblick in die physikalische Zusammensetzung der angegebenen Probe geben können. Diese Art der Analyse kann verwendet werden, um Materialeigenschaften wie Elastizität, Zugfestigkeit, Wärmeleitfähigkeit, elektrische Leitfähigkeit und andere physikalische Eigenschaften zu bestimmen. Das Tool bietet auch eine einzigartige, „röntgenähnliche“ Form der Analyse, so dass die Untersuchung der internen Merkmale der Probe, die sonst schwer zu beobachten sein kann. SEMICS Opus III ist einzigartig in seiner Fähigkeit, eine breite Palette von Proben zu sondieren, von leitfähigen Proben wie Metallen bis hin zu nichtleitfähigen Proben wie Kunststoffen und Polymeren. Es bietet hochauflösende Bildgebung mit präzisen und genauen Bildergebnissen und bietet Informationen über eine Probe, die durch andere Mittel nicht gesammelt werden kann. Dank seiner Fähigkeit, in drei Dimensionen zu scannen, kann es sogar verwendet werden, um Defekte in der Mikrostruktur der ursprünglichen Probe zu erkennen. Darüber hinaus können die Ergebnisse sehr detailliert sein und sehr umfassende Informationen über die körperliche Zusammensetzung und Struktur einer Materialprobe liefern. Opus III ist eine sehr vielseitige, leistungsstarke Technik, die in einer Vielzahl von Branchen erfolgreich eingesetzt wurde, um Materialien und Komponenten genau zu untersuchen. Die Nanometerauflösung ist besonders vorteilhaft bei der Sondierung von empfindlichen Proben wie Halbleitern, Nanomaterialien und anderen hochpräzisen Partikeln. Die breite Anwendbarkeit und zuverlässige Genauigkeit der Technik machen sie zu einer allgemein akzeptierten Option für die Materialanalyse.
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