Gebraucht SEMICS Opus III #9410027 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist ein automatisierter Prober zur Messung physikalischer und elektrischer Parameter von Bauelementen wie Halbleiterchips, integrierten Schaltungen und anderen mikroelektronischen Bauelementen. Opus III ist mit einer Autofokus-Kamera und einer optischen Ausrüstung zur visuellen Kontrolle der Geräte sowie zwei Roboterarmen zur Prüfung und Proberanwendung ausgestattet. Die Roboterarme sind so konzipiert, dass sie eine präzise und wiederfindbare Umgebung für die Sondierung, Fehlerbehebung und Inspektion des Geräts bieten. Der Prober verfügt außerdem über ein automatisches Gerätefach-Ladesystem und mehrere Messkanäle. Die Sondierungseinheit basiert auf SEMICS Advanced Physical Property Measurement Technology (PPMTM), die verwendet wird, um Kontaktwiderstand, Kapazität, Induktivität, Kontaktwiderstand und andere Parameter des Geräts zu messen und zu analysieren. Der Prober unterstützt auch verschiedene Arten von Messinstrumenten wie VXI, GPIB, PCI, FEDBUS und VME. Die gesamte Maschine wird mit einer integrierten Computersoftware und einem Monitor gesteuert. Die physikalischen Eigenschaften werden mit der Optiflow-Software gemessen, die auf einem mathematischen Modell basiert, das die individuellen Eigenschaften verschiedener Geräte berücksichtigt. Das Werkzeug verwendet einen hochempfindlichen Sondenkopf, mit dem minimale Änderungen der physikalischen Eigenschaften mit hoher Genauigkeit gemessen werden können. Die Software wird verwendet, um die Testsequenz und das Messskripting mit anpassbaren Parametern und Kalibrierung für verschiedene Arten von Sonden und Geräten zu steuern. SEMICS Opus III ist auch mit mehreren Instrumenten zur elektrischen Charakterisierung wie Leckstromdetektor (LCD), vorgespannten Sonden und Instrumentierung zur Asset-Charakterisierung und Präzisionstemperaturregelung ausgestattet. Das Modell soll die Messergebnisse in Gerätemodelle integrieren, um eine effiziente Geräteanalyse zu generieren. Die resultierende Analyse hilft, anormale Geräteverhalten und Ausfälle zu identifizieren. Opus III verfügt über eine zuverlässige und sichere Verbindung zu einem sicheren Rechenzentrum, mit dem Benutzer auf die Testergebnisse zugreifen und die Geräte fernverwalten können. Das System verfügt außerdem über ein intuitives und benutzerfreundliches Bedienfeld, mit dem Benutzer das Gerät einfach konfigurieren und verwalten können. SEMICS Opus III bietet eine innovative und kostengünstige Proberlösung, mit der Kunden in der Halbleiterindustrie ihre Geräte effizient und genau testen und analysieren können.