Gebraucht SEMICS Opus III #9410028 zu verkaufen

SEMICS Opus III ist eine halbautomatische Prober- und Wafer-Handhabungseinrichtung, die in der Lage ist, ein breites Spektrum an Wafer-Sondierungsaufgaben durchzuführen, vom grundlegenden Wafertest über die Charakterisierung bis hin zur Geräte- und Ertragsauswertung. Das System besteht aus mehreren hochpräzisen Stufen, darunter einem oben montierten Robot- Hand™ zur automatisierten Aufnahme und Lieferung einzelner Wafer, einem achtachsigen Hochschichtmanipulator zur Prüfung und/oder Sondierung der Wafer, einer Drehpositionierstufe zur schnellen Ausrichtung des Wafers und einem plattformartigen Prober für scharfe und genaue Sondierung. Darüber hinaus verfügt Opus III über eine breite Palette von anderen Funktionen, wie die Fähigkeit, mehrere verschiedene Sondierungsprogramme zu speichern, anspruchsvolle Werkzeuge für die Werkzeuganalyse und Berichterstattung und Unterstützung für verschiedene Sondierungstechnologien, einschließlich Widerstandsblattsondierung, Lasersondierung und Kapazitätsblattsondierung, unter anderem. Das Gerät ist auch in der Lage, mit einer breiten Palette von Instrumenten wie Basismessgeräten und fortschrittlicheren Geräten zu integrieren. Die hochpräzise, kipptischgesteuerte Robot- Hand™ von SEMICS Opus III ist für die präzise, wiederholbare, berührungslose Lieferung von Sondenkarten und Wafern konzipiert. Es bietet erweiterte Reichweite sowie Armgrößenanpassung für alle verfügbaren Sondenkarten. Der Acht-Achsen-Manipulator ist für eine effiziente, wiederholbare Manipulation und Prüfung ausgelegt. Die hochdichten Positionier- und Roboterarme der Maschine ermöglichen eine präzise Ausrichtung und Positionierung von Wafern und Chips bei gleichzeitiger Flexibilität und schneller Reaktion. Die Drehpositionierung ermöglicht schnelle und präzise vordefinierte Ausrichtungs-Referenzpositionen. Der hochpräzise Prober im Plattformstil ermöglicht eine scharfe und genaue Sondierung der Matrize mit außergewöhnlicher thermischer Stabilität. Opus III ermöglicht die On-the-Fly-Datenerfassung, das Speichern und Plotten von Sondenergebnissen, die Optimierung der Testzeiten und die Verbesserung der Genauigkeit. Das Tool verfügt über ein ausgeklügeltes Werkzeug zur Werkzeuganalyse und Berichterstattung, das eine umfassende Waferanalyse am Ende des Tests ermöglicht. Eine Reihe von Kommunikationsmethoden ist auch verfügbar, von seriell und USB zu GPIB, Ethernet und IEEE 488.2 Standard. Schließlich kann SEMICS Opus III Testdaten speichern und analysieren, was eine schnelle und genaue Gerätecharakterisierung oder Ertragsauswertung ermöglicht.