Gebraucht SEMICS Opus #293685953 zu verkaufen

SEMICS Opus ist ein hochgenauer, multisensorischer, probabilistischer Prober für die Halbleiterherstellung, der für den Einsatz in industriellen Umgebungen entwickelt wurde. Das Tool kombiniert fortschrittliche Silizium-Wafer-Inspektionstechnologien mit modernster Optoelektronik, ultrapräziser Messtechnik und verbesserten Bildanalysefunktionen, um qualitativ hochwertige Halbleiterbauelemente herzustellen. Das Produkt bietet hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit für die Halbleiterproduktionsprüfung, so dass Fehler auf Schaltungsmustern mit hoher Präzision erkannt und identifiziert werden können. Opus ist in der Lage, Minutenunterschiede in Schaltungsmustern genau zu identifizieren und zu messen, wodurch detaillierte Informationen und Sicherheiten über die Halbleiterzuverlässigkeit bereitgestellt werden. Der Prober hat die Fähigkeit, alle Objektive oder Sensorartefakte schnell zu erkennen und verbleibende Bilder mit seinen Mustererkennungsmerkmalen zurückzuweisen, wodurch eine falsche Erkennung minimiert wird. Es kann auch untersuchen Probe Verformung, trockene Ätzschäden, Wirebond Schäden, und sogar lokalisierte Kontamination. Der Prober verfügt auch über ein Granularitätserkennungswerkzeug. Dieses Tool ermöglicht es dem Gerät, Fehlergrößen von der Größe eines einzelnen Pixels bis zu größeren Funktionen von einigen hundert Nanometern Länge genau zu identifizieren. Dies ermöglicht es, verschiedene wichtige Mängel zu erkennen, zu klassifizieren und zu messen, darunter Schlammrisse, Mikrobrücken, Nadelöcher und Entwässerungsfehler. Um eine maximale Genauigkeit zu erreichen, ist der Prober für berührungslose 3D-Messungen mit monochromatischer Nahfeldoptik ausgelegt. Dadurch erhält der Prober eine 3D-Messung hoher Dichte mit hoher Präzision, was zu einem sehr genauen Ergebnis führt. SEMICS Opus ist auch mit einem fortschrittlichen Optikmodul ausgestattet, das eine stabile Leistung und fokussierte Beleuchtung bei der Halbleiterinspektion gewährleistet. Dieses Modul verfügt über Laserausrichtung, Temperaturregelung und eine Autokollimationsroutine, die die Linsen dynamisch für maximale Bildklarheit optimiert. Der Prober ist mit einem integrierten Multipyp Multi-Sensor Probing and Acquisition System ausgestattet. Dieses System ermöglicht die automatische und gleichzeitige Erfassung mehrerer Messgrößen wie Ebenheit, gegenüberliegende Topographie, Tiefe und X-Y-Verschiebung. Opus verfügt auch über ein Kalibriermodul, das die Kalibrierung und Wartung der Geräte unterstützt. Dieses Modul ermöglicht eine schnelle Kalibrierung und sorgt dafür, dass der Prober immer mit Spitzeneffizienz läuft. Insgesamt ist das SEIMCS SEMICS Opus ein zuverlässiger und hochgenauer Prober, der die Produktionseffizienz von Halbleiterbauelementen maximiert. Es kombiniert fortschrittliche Bildgebung mit leistungsstarker Messtechnik und optoelektronischen Technologien, um genau definierte Halbleitermikrostrukturen zu identifizieren und zu messen.