Gebraucht SEMICS Opus3 #155756 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 155756
Wafergröße: 6", 8", 12"
Wafer prober, 6", 8", and 12"
Basic specifications:
Wafer size: 6", 8", and 12" wafers
Accuracy: ± 1.5µm
Card changer: 350 to 480mm
Temperature range: -55 to 200°C (with ambient control)
Chuck force: 300kg
Index time: 200msec (5 x 5x x 0.5mm)
Auto cassette loader available in 3 configurations:
Flat top loader
Top loader
Dual FOUP loader
Features:
Smart Probe card Alignment (SPA) Mechanism
Intelligent Overdrive Control
6", 8" & 12" Wafers without Mechanical Changeover
Superior Tri-Temp. Control (Cold/ Ambient/ Hot)
Flat Top for Large Test Head
Easy On-Site Calibration
Fast Index/ Less Vibration
Fastest & Simplest Auto Card Changer
Fast Linear Motor Control for XY Stage
Z-Down Control at the Time of Power-Down
200x100 Needle Cleaner
CCD Camera Cassette Mapping for Thin Wafers
High-Performance OCR
SECS GEM Compliance.
SEMICS Opus3 ist ein von SEMICS Incorporated entwickeltes Prober-Equipment. Es ist für die Herstellung von Halbleiterbauelementen in der fab-Umgebung konzipiert. Das System kombiniert verschiedene Messgeräte, wie Laserinterferometer, Messtechnik-Systeme und einen Kraftsensor, mit einer ausgeklügelten Software, mit der Daten gesammelt und erweiterte Datenanalysen durchgeführt werden können. SEMICS OPUS 3 prober unit ist eine vielseitige und hochentwickelte Maschine, die sich für eine Vielzahl von Anwendungen eignet, darunter die Test- und Kartenteilanalyse, Kinematik und dynamische Analyse, optischer Mikroskop (OM) Test und Messung sowie Sondenkartenleistungstest. Es wird auch für Wafer-Level-Tests wie parametrische Tests und Fehleranalysen verwendet. Opus3 prober-Tool ist mit einem Strahlmonitor ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, genaue Datenaufzeichnungen von Wafern zu erstellen. Das Modell verfügt außerdem über ein Laserinterferometer zur Messung des Abstands zwischen Prober und Wafer. Darüber hinaus ist eine vollautomatische Ausrichtungs- und Fokusausrüstung enthalten, mit der der Benutzer die Ausrichtung und den Fokus des Probersystems schnell und genau anpassen kann. OPUS 3 enthält auch einen Kraftsensor, mit dem der Benutzer die Kontaktkraft zwischen Prober und Wafer messen kann. Darüber hinaus umfasst das Gerät eine integrierte Messtechnik-Maschine, die aus Bildverarbeitungs- und Datenerfassungsfunktionen besteht, mit denen Daten während des Wafertests gesammelt werden können. Das Steuerungstool für SEMICS Opus3 prober ist sehr intuitiv und einfach zu bedienen. Der Benutzer kann den Prober und seine Funktionen steuern, indem er Befehle über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche ausgibt. Es hat auch die Möglichkeit, sein eigenes Testprogramm und Steuerparameter entsprechend den spezifischen Anforderungen des Benutzers anzupassen. Darüber hinaus ermöglicht das Control-Asset dem Benutzer, sein Programm entsprechend den Änderungen in der Wafer-Testumgebung zu ändern und sicherzustellen, dass während des Tests genaue und zuverlässige Daten gesammelt werden. Zusammenfassend ist SEMICS OPUS 3 prober model eine wirklich vielseitige und fortschrittliche Ausrüstung, die für eine breite Palette von Anwendungen geeignet ist. Es enthält eine Vielzahl von Messgeräten und fortschrittliche Software, damit der Benutzer effektiv und effizient Daten sammeln und Datenanalysen während Wafertests durchführen kann.
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