Gebraucht SEMICS Opus3 #155756 zu verkaufen

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Hersteller
SEMICS
Modell
Opus3
ID: 155756
Wafergröße: 6", 8", 12"
Wafer prober, 6", 8", and 12" Basic specifications: Wafer size: 6", 8", and 12" wafers Accuracy: ± 1.5µm Card changer: 350 to 480mm Temperature range: -55 to 200°C (with ambient control) Chuck force: 300kg Index time: 200msec (5 x 5x x 0.5mm) Auto cassette loader available in 3 configurations: Flat top loader Top loader Dual FOUP loader Features: Smart Probe card Alignment (SPA) Mechanism Intelligent Overdrive Control 6", 8" & 12" Wafers without Mechanical Changeover Superior Tri-Temp. Control (Cold/ Ambient/ Hot) Flat Top for Large Test Head Easy On-Site Calibration Fast Index/ Less Vibration Fastest & Simplest Auto Card Changer Fast Linear Motor Control for XY Stage Z-Down Control at the Time of Power-Down 200x100 Needle Cleaner CCD Camera Cassette Mapping for Thin Wafers High-Performance OCR SECS GEM Compliance.
SEMICS Opus3 ist ein von SEMICS Incorporated entwickeltes Prober-Equipment. Es ist für die Herstellung von Halbleiterbauelementen in der fab-Umgebung konzipiert. Das System kombiniert verschiedene Messgeräte, wie Laserinterferometer, Messtechnik-Systeme und einen Kraftsensor, mit einer ausgeklügelten Software, mit der Daten gesammelt und erweiterte Datenanalysen durchgeführt werden können. SEMICS OPUS 3 prober unit ist eine vielseitige und hochentwickelte Maschine, die sich für eine Vielzahl von Anwendungen eignet, darunter die Test- und Kartenteilanalyse, Kinematik und dynamische Analyse, optischer Mikroskop (OM) Test und Messung sowie Sondenkartenleistungstest. Es wird auch für Wafer-Level-Tests wie parametrische Tests und Fehleranalysen verwendet. Opus3 prober-Tool ist mit einem Strahlmonitor ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, genaue Datenaufzeichnungen von Wafern zu erstellen. Das Modell verfügt außerdem über ein Laserinterferometer zur Messung des Abstands zwischen Prober und Wafer. Darüber hinaus ist eine vollautomatische Ausrichtungs- und Fokusausrüstung enthalten, mit der der Benutzer die Ausrichtung und den Fokus des Probersystems schnell und genau anpassen kann. OPUS 3 enthält auch einen Kraftsensor, mit dem der Benutzer die Kontaktkraft zwischen Prober und Wafer messen kann. Darüber hinaus umfasst das Gerät eine integrierte Messtechnik-Maschine, die aus Bildverarbeitungs- und Datenerfassungsfunktionen besteht, mit denen Daten während des Wafertests gesammelt werden können. Das Steuerungstool für SEMICS Opus3 prober ist sehr intuitiv und einfach zu bedienen. Der Benutzer kann den Prober und seine Funktionen steuern, indem er Befehle über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche ausgibt. Es hat auch die Möglichkeit, sein eigenes Testprogramm und Steuerparameter entsprechend den spezifischen Anforderungen des Benutzers anzupassen. Darüber hinaus ermöglicht das Control-Asset dem Benutzer, sein Programm entsprechend den Änderungen in der Wafer-Testumgebung zu ändern und sicherzustellen, dass während des Tests genaue und zuverlässige Daten gesammelt werden. Zusammenfassend ist SEMICS OPUS 3 prober model eine wirklich vielseitige und fortschrittliche Ausrüstung, die für eine breite Palette von Anwendungen geeignet ist. Es enthält eine Vielzahl von Messgeräten und fortschrittliche Software, damit der Benutzer effektiv und effizient Daten sammeln und Datenanalysen während Wafertests durchführen kann.
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